[实用新型]偏光片精度精密测量盘有效
| 申请号： | 201920115478.7 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN209371934U | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 胡佩 | 申请（专利权）人： | 重庆工程职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 重庆天成卓越专利代理事务所(普通合伙) 50240 | 代理人： | 李梅 |
| 地址： | 402260 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 上层盘 下层盘 外轮廓 偏光片 旋转轴 精密测量 固定座 本实用新型 同一竖直面 外轮廓边缘 最大外轮廓 边缘设置 测量效率 螺旋线 上盘面 圆盘式 转动 测量 穿过 | ||
【权利要求书】：
1.一种偏光片精度精密测量盘，其特征在于：包括固定座(1)、上层盘(2)和下层盘(3)，所述上层盘(2)的外轮廓为螺旋线，所述下层盘(3)的外轮廓为标准圆，所述上层盘(2)的最大外轮廓边缘与下层盘(3)的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座(1)上设置有旋转轴(4)，所述旋转轴(4)依次穿过下层盘(3)和上层盘(2)的中心,所述下层盘(3)和上层盘(2)均能绕旋转轴(4)转动,在所述上层盘(2)的上盘面边缘设置有一圈刻度(5)，该刻度(5)用于显示下层盘(3)的外轮廓和上层盘(2)的外轮廓之间的径向宽度L。
2.根据权利要求1所述的偏光片精度精密测量盘，其特征在于：所述上层盘(2)的螺距为1.8mm，所述下层盘(3)的直径为72mm，所述上层盘(2)的刻度(5)数值范围为0-1.8mm，测量精度为0.01mm。
3.根据权利要求1或2所述的偏光片精度精密测量盘，其特征在于：在所述上层盘(2)的上盘面上刻度(5)数值为0mm的位置设置有辅助球(6)，该辅助球(6)向上凸出上层盘(2)的上盘面。
4.根据权利要求1所述的偏光片精度精密测量盘，其特征在于：以所述上层盘(2)的中心为基点，将刻度(5)按一定的比例缩小，设置在上层盘(2)的中部形成备用刻度(7)。
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