[实用新型]一种矽晶片尺寸的测量装置

说明书

本实用新型公开了一种矽晶片尺寸的测量装置，包括底座，所述底座的一侧固定有控制台，所述控制台的一侧安装有显示屏，所述控制台的一侧设有开关和两个旋钮，所述开关和两个旋钮分别位于显示屏的两侧，所述底座的上端设有凹槽，所述凹槽内设有放置板，所述放置板的下端设有驱动电机，所述驱动电机的输出轴末端固定在放置板的下端，所述驱动电机的下端固定有升降板，所述升降板的上端设有圆形滑槽，所述圆形滑槽安装有两个第二滑块。本装置操作方法简单灵活，降低了工作人员的劳动强度，测量时步骤不再繁杂，不易出现操作误差，使操作更加方便简单，有效的提高了测量准确性和测量效率。

技术领域

本实用新型涉及矽晶片检测技术领域，尤其涉及一种矽晶片尺寸的测量装置。

背景技术

矽晶片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在矽晶片上刻蚀出数以百万计的晶体管，这些晶体管比人的头发要细小上百倍，半导体通过控制电流来管理数据，形成各种文字、数字、声音、图象和色彩，它们被广泛用于集成电路，并间接被地球上的每个人使用，这些应用有些是日常应用，如计算机、电信和电视，还有的应用于先进的微波传送、激光转换系统、医疗诊断和治疗设备、防御系统和NASA航天飞机，在生产过程中，需要对矽晶片进行一系列的严格检测，其中就包括对矽晶片的尺寸检测，需要使用到测量装置。

现有的测量装置测量步骤繁杂，测量速度较慢，由于矽晶片结构较为精密，导致测量时工作人员的劳动强度较高，且容易出现操作误差，降低了测量效率，为此，我们提出了一种矽晶片尺寸的测量装置来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种矽晶片尺寸的测量装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种矽晶片尺寸的测量装置，包括底座，所述底座的一侧固定有控制台，所述控制台的一侧安装有显示屏，所述控制台的一侧设有开关和两个旋钮，所述开关和两个旋钮分别位于显示屏的两侧，所述底座的上端设有凹槽，所述凹槽内设有放置板，所述放置板的下端设有驱动电机，所述驱动电机的输出轴末端固定在放置板的下端，所述驱动电机的下端固定有升降板，所述升降板的上端设有圆形滑槽，所述圆形滑槽安装有两个第二滑块，两个第二滑块的上端均固定在放置板的下端，所述升降板的下端设有调节装置，所述底座的上端两侧均设有第一滑槽，所述第一滑槽内设有滑动装置，所述底座的上端两侧均固定有两个激光测距仪。

优选地，所述调节装置包括设置在凹槽内相对侧壁上的两个第二滑槽，两个第二滑槽内均安装有限位块，两个限位块的相对一侧共同固定有升降板，所述升降板下端设有两个电动伸缩杆，两个电动伸缩杆的上端均固定在升降板的下端，所述电动伸缩杆的下端固定在凹槽的底部。

优选地，所述滑动装置包括滑动设置在两个第一滑槽内的第一滑块，两个第一滑块的上端均固定有移动块，两个移动块的相对一侧均固定有激光对射装置，两个移动块的上端均固定有连接杆，两个连接杆的上端共同固定有移动杆。

优选地，所述底座的下端和控制台的下端共同固定有橡胶垫。

优选地，所述放置板的上端设有多条横向的参考线和纵向的参考线，且多条横向的参考线和纵向的参考线交错设置。

优选地，所述底座的上端两侧均设有刻度线。

优选地，所述移动杆上包覆有橡胶层。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过参考线、刻度线、滑动装置和调节装置的配合，使测量时更加便于操作，解决了测量步骤繁杂，测量速度较慢的问题，有效的提升了测量速度，提高了测量效率；

通过放置板、激光对射装置、激光测距仪、显示屏和旋钮的配合，使测量时工作人员的操作更加方便简单，解决了测量时工作人员的劳动强度较高，且容易出现操作误差的问题，有效的提高了测量准确性和测量效率；