[实用新型]一种矽晶片的硬度检测装置

说明书

本实用新型公开了一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座，所述底座的上端固定有动力装置，所述动力装置的上端安装有控制箱，所述控制箱的下端安装有硬度测试压头，所述底座的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板，所述连接板的上端设有移动台，所述移动台的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块，所述滑块上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆。本实用新型能够将不同大小的矽晶片稳定固定，防止矽晶片测试时移位导致测量结果误差较大，方便根据测试需求将矽晶片移动，且能够防止固定时夹持过度将矽晶片损坏，同时能对矽晶片进行缓冲保护。

技术领域

本实用新型涉及硬度检测技术领域，尤其涉及一种矽晶片的硬度检测装置。

背景技术

所谓硬度，就是材料抵抗更硬物压入其表面的能力。根据试验方法和适应范围的不同，硬度单位可分为布氏硬度、维氏硬度、洛氏硬度、显微维氏硬度等许多种，不同的单位有不同的测试方法，适用于不同特性的材料或场合，硬度测试是检测材料性能的重要指标之一，也是最快速最经济的试验方法之一。之所以能成为力学性能试验的常用方法，是因为硬度测试能反映出材料在化学成分、组织结构和处理工艺上的差异。常被作为监督手段应用于各行各业。

现有的硬度测试装置不方便将矽晶片固定，容易在测试时移位，导致测试误差较大，且测试时没有缓冲，与矽晶片直接接触容易将矽晶片压坏，为此，我们提出了一种矽晶片的硬度检测装置来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种矽晶片的硬度检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座，所述底座的上端固定有动力装置，所述动力装置的上端安装有控制箱，所述控制箱的下端安装有硬度测试压头，所述底座的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板，所述连接板的上端设有移动台，所述移动台的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块，所述滑块上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆，所述螺杆的一端固定有转动轮，两个转动轮之间通过传动带传动连接，其中一个螺杆的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台的一端，且该螺杆的一端固定有转盘，所述螺杆上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块螺纹套接在螺杆上设有正向螺纹的一端，另一个滑块螺纹套接在螺杆上设有反向螺纹的一端，所述移动台的下端设有四个凹槽，所述凹槽内设有移动装置。

优选地，所述移动装置包括设置在凹槽内底部的电动伸缩杆，所述凹槽内的相对侧壁上均设有移动槽，所述移动槽内均安装有移动块，两个移动块之间共同固定有连接块，所述连接块的下端设有轨轮，所述连接板的上端设有两个放置槽，同一侧的两个轨轮为一组，同一组的两个轨轮均安装在放置槽内。

优选地，所述缓冲装置包括等间距固定在底座上端的多个固定杆，所述固定杆内设有空腔，所述空腔内的底部固定有第二弹簧，所述第二弹簧的上端固定有固定块，所述固定块的上端固定有推杆，所述推杆的一端贯穿空腔内的一端侧壁并延伸至固定杆的上端，所述推杆的上端固定在连接板的下端。

优选地，所述夹持装置包括设置在滑块上端的固定板，所述固定板上贯穿设有两个连接杆，同一端的两个固定板为一组，同一组的四个连接杆的一端共同固定有移动板，所述连接杆上套设有第一弹簧，所述第一弹簧的一端固定在移动板的一侧，所述第一弹簧的另一端固定在固定板的一侧，所述连接杆的另一端固定有限位块。

优选地，所述轨轮上包覆有橡胶层。

优选地，所述控制箱的一侧安装有显示屏。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：