[实用新型]数字量产测试机有效
| 申请号： | 201920101806.8 | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN210270062U | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 蒋松鹰;姚炜;周佳宁;杜黎明;孙洪军 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆宗力;王宝筠 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 数字 量产 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种数字量产测试机，其特征在于，包括：时钟模块、向量读取模块和数据缓存模块；其中，
所述时钟模块用于向所述数据缓存模块提供第一时钟信号和第二时钟信号；
所述向量读取模块用于读取存储于外部设备中的数字测试向量；
所述数据缓存模块用于根据所述第一时钟信号和第二时钟信号，以乒乓缓存的方式缓存所述向量读取模块读取的数字测试向量，并根据缓存的数字测试向量生成激励信号向待测芯片传输；
所述向量读取模块为硬核处理器系统。
2.根据权利要求1所述的数字量产测试机，其特征在于，所述数据缓存模块还用于获取所述待测芯片传输的待测数据。
3.根据权利要求2所述的数字量产测试机，其特征在于，还包括：数据比较模块；
所述数据比较模块用于接收上位机发送的第三时钟信号，并根据所述第三时钟信号工作，和用于在工作模式时，比较所述待测数据与期待数据，并根据比较结果获得待测芯片的向量测试结果。
4.根据权利要求3所述的数字量产测试机，其特征在于，所述数据比较模块还用于接收上位机发送的触发信号，并在接收到所述触发信号后，进入工作模式。
5.根据权利要求1所述的数字量产测试机，其特征在于，所述向量读取模块为硬核处理器系统；
所述硬核处理器系统根据所述第一时钟信号工作。
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