[实用新型]一种晶圆贴底膜装置有效
申请号: | 201920038411.8 | 申请日: | 2019-01-10 |
公开(公告)号: | CN209232741U | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 孟强;陈志远;聂伟;王坤;魏通;徐学飞;孔凡苑;曹文文 | 申请(专利权)人: | 江苏汇成光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 董旭东 |
地址: | 225128 江苏省扬州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 底膜 定位平台 滚轮机构 本实用新型 转动辊组 定位环 可移动 旋转臂 旋转盘 旋转座 种晶 半导体加工领域 均匀间隔分布 左右对称设置 合框机构 环形切割 晶圆吸盘 同轴设置 转动滚轮 自动切割 传动带 机壳体 切割刀 传动 环合 晶圆 两组 外周 吸环 压辊 自动化 | ||
1.一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,包括机壳体,所述机壳体内设有左右互相对应的晶圆合框机构和定位环合框机构,所述定位环合框机构包括圆形定位平台,与定位平台相对应的前后两侧均设有转动辊组,两转动辊组之间纵向设有具有粘性的传动底膜,传动底膜的宽度大于定位平台的直径,定位平台上方对应设有可移动的吸环,定位环吸附在吸环下方,定位环与定位平台的轴线相重合时,定位环的内径小于定位平台的外径,定位环的外径大于定位平台的外径,定位环下侧开设有环形切割槽;所述定位平台下方同轴设置有旋转盘,旋转盘外周均匀间隔分布设有若干旋转臂,旋转臂端部设有旋转座,旋转座位于定位平台外侧,旋转座上可转动地连接有压轮,压轮轴线沿定位平台径向设置,压轮上侧与定位平台相平齐,旋转座上还固定连接有弧形切割刀,切割刀的上侧刀刃可对应伸入切割槽内,压轮的两端面在轴线方向分别位于切割刀的左右两侧;所述晶圆合框机构包括两组左右对称设置的滚轮机构,所述滚轮机构包括两个前后对应设置的转动滚轮,两个转动滚轮之间纵向设有传动带,两根传动带之间横向设有压辊,压辊左右两端的上侧分别与对应传动带固定连接;所述滚轮机构上方对应设置有可移动的晶圆吸盘,晶圆吸盘与压辊相对应设置。
2.根据权利要求1所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述转动辊组包括若干沿纵向间隔分布的转动辊,转动辊轴线横向设置,转动辊的左右两端分别可转动地支撑在对应辊支架上,各转动辊上侧相平齐,传动底膜下表面与转动辊上侧相接触。
3.根据权利要求2所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述传动底膜包括源头转动部和平动部,传动底膜源头转动部由外向内卷绕成若干圈,传动底膜源头转动部的内圈套装在放料轴上,放料轴的左右两端可转动地支撑在对应辊支架上,传动底膜源头转动部的外圈边侧与平动部相接。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述吸环上侧沿周向均匀间隔分布设有若干三通接头,三通接头的左右两侧均设有旁通路,三通接头的下侧设有下通路,相邻三通接头的旁通路之间通过连接管相连,位于边侧的三通接头的旁通路与抽真空装置相连,吸环上对应各三通接头的下通路开设有若干通气孔,通气孔与对应三通接头的下通路相连通, 所述吸环的边侧竖直设有移动杆,移动杆上端与驱动机构传动相连。
5.根据权利要求4所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述驱动机构包括两根平行设置的固定横向梁,固定横向梁位于吸环的上方,固定横向梁上设有横向导轨和横向齿条,两固定横向梁之间设有横移架,横移架的两端分别设有横移座,横移座通过滑块与对应横向导轨滑动连接,横移座上竖直设有横移电机,横移电机的输出端设有与对应横向齿条相啮合的齿轮;所述横移架上通过第一纵向导轨滑动连接有第一纵移座,第一纵移座上设有第一纵移电机,横移架上轴向设有第一纵移齿条,第一纵移电机的输出端设有与第一纵移齿条相啮合的齿轮,所述第一纵移座上活动连接有升降架,移动杆上端与升降架相连。
6.根据权利要求5所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述第一纵移座中部开设有竖直贯穿第一纵移座的凹槽,凹槽侧壁设有若干升降导轨,升降架竖直插入凹槽内并通过滑块与各升降导轨滑动连接,升降架上竖直设有可转动的丝杠,丝杠的一端与升降电机传动连接,第一纵移座的凹槽上侧固定设有螺母座,螺母座上固定设有丝杠螺母,丝杠螺母与丝杠相匹配设置。
7.根据权利要求1-3任一项所述的一种晶圆贴底膜装置,其特征在于,所述旋转盘的转轴经减速器与旋转电机传动连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造