[发明专利]激光雷达系统和检测方法

权利要求书

1.一种激光雷达系统，其特征在于，包括：光学部件，激光组件，

所述光学部件用于对所述激光组件的测试激光进行调整，所述光学部件集成在衬底材料上，所述光学部件和所述衬底材料为一体式结构；

所述激光组件用于通过测试激光对待测物体进行检测，所述激光组件设置在所述衬底材料上，所述测试激光的光路经过所述光学部件。

2.根据权利要求1所述的激光雷达系统，其特征在于，所述光学部件为超透镜阵列；所述超透镜阵列通过光刻的方式集成在所述衬底材料上；所述激光组件包括激光发射器和激光接收器；

所述测试激光包括所述激光发射器向所述待测物体发射的第一测试激光，以及所述激光接收器接收的所述第一测试激光照射所述待测物体后反射的第二测试激光。

3.根据权利要求2所述的激光雷达系统，其特征在于，所述测试激光的光路经过所述光学部件包括：

所述第一测试激光的光路从所述激光发射器开始，经过所述超透镜阵列后到达所述待测物体；

所述第二测试激光的光路从所述待测物体开始，经过所述超透镜阵列后，到达所述激光接收器。

4.根据权利要求1所述的激光雷达系统，其特征在于，所述光学部件和所述衬底材料，以及固定在所述衬底材料上的所述激光组件均设置在可旋转的平台上。

5.根据权利要求1所述的激光雷达系统，其特征在于，所述光学部件和所述激光组件组成一个雷达单元，所述激光雷达系统包括多个雷达单元组成的多线雷达。

6.一种激光雷达检测方法，其特征在于，包括：

通过激光组件发射测试激光，其中，所述测试激光经过光学部件后照射待测物体；

通过所述激光组件接收所述待测物体反射的所述测试激光，其中，所述测试激光经过所述光学部件后被所述激光组件接收，所述光学部件集成在衬底材料上，所述光学部件和所述衬底材料为一体式结构，所述激光组件设置在所述衬底材料上；

根据所述测试激光对所述待测物体进行检测。

7.根据权利要求6中任意一项所述的方法，其特征在于，

所述测试激光包括所述激光组件向所述待测物体发射的第一测试激光，和/或所述激光组件接收的所述第一测试激光照射所述待测物体后反射的第二测试激光；所述激光组件包括激光发射器和/或激光接收器；

通过所述激光组件发射测试激光包括：通过激光发射器发射所述第一测试激光，其中，所述第一测试激光经过所述光学部件照射待测物体。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述激光组件接收所述待测物体反射的所述测试激光包括：

通过激光接收器接收所述第二测试激光，其中，所述第二测试激光经过所述光学部件后被所述激光接收器接收。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求6至8中任意一项所述的激光雷达测试方法。

10.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求6至8中任意一项所述的激光雷达测试方法。