[发明专利]一种用于航空轴承套圈锻件内部缺陷的水浸超声检测方法

权利要求书

1.一种用于航空轴承套圈锻件内部缺陷的水浸超声检测方法，其特征在于：它包括以下步骤：

步骤一：水浸超声检测；

在步骤一的水浸超声检测之前，首先需要选定超声系统，然后确定检测工艺及参数；

确定检测工艺及参数包括以下步骤：

S21：声束入射方向和入射面的选择；

轴承套圈检测时主选外径面垂直入射，外径面为整个扫查面，当外径尺寸上加工余量不足1.5mm时，增加内径面垂直入射检验；

S22：当受检件横截面的长边和短边长度之比小于3:1时，应沿长边与短边所在的两个面进行扫查，当长边和短边之比大于等于3:1时，只在长边所在的面进行扫查；

S22：水距及聚焦点设置；

聚焦点位置设置为入射面表面聚焦，此时的水距为焦距；

步骤一一：被检套圈的放置：

将被检套圈置于水槽的转台上，旋紧转台三爪螺栓自对中卡紧，外径面入射时采用内装卡方式，内径面入射时采用外装卡方式，当卡爪影响检测结果显示时，将套圈进行一次检测后旋转60°再次检测；

步骤一二：检测前的设备调节及设置调用；

步骤一三：闸门设置；

闸门监控区域包含入射表面盲区到反射面边缘，同时不被反射波所干扰，闸门的位置高度为满屏刻度的20％～30％；

步骤一四：扫查；

按照编制的自动程序，通过被检件转动，探头检测一周并沿轴向步进的方式进行，实现全部待检区域的扫查；

步骤二：数据判读；

检测数据的判读包括缺陷信号的定位及定量，通过A扫描视图和C扫描视图对缺陷进行判读；其中，A扫描视图用于判读缺陷的波幅及埋深，C扫描视图为被检套圈的展开投影图，通过在A扫描视图中改变界面波及底面波之间的闸门宽度对被检套圈中不同深度的缺陷在C扫中的显示进行观察，通过C扫描视图测定的缺陷在入射声束方向的投影面积、缺陷距离被检套圈上下两个边的距离以及缺陷反射信号颜色判定其严重程度；

步骤三：缺陷信号定位；

步骤三一：在A扫描视图中将闸门起止点设置在界面波之后及底面波之前的位置，此时C扫描视图中可见相应的色块显示，C扫描视图中被检套圈边缘的连续色块显示是被检套圈边界信号，以该边界信号最高波幅处向边界处降低6dB即为被检套圈的边界，边界内部的色块显示即为疑似缺陷显示，对这些显示作进一步分析；

步骤三二：点击C扫描视图中色块显示的中心位置时，A扫描视图中的界面波及底波之间有相应的波幅显示即为色块的波幅，该波幅距界面波的距离即为该缺陷的埋深，在C扫描视图中，该色块的最高波幅位置距离扫查起始点及被检套圈两侧边缘的距离通过测量标尺测得；

步骤三三：选择C扫描视图的色块，看到C扫描视图色块上对应的波幅高度，在C扫图中对缺陷尺寸通过波幅高度变化进行测量；

步骤三四：通过A扫描视图和C扫描视图信息综合确认，来反映缺陷在检测工件中的相应位置、严重程度及相关数据；

步骤四：缺陷信号评定；

步骤四一：当缺陷在C扫描视图中显示为单个点状时，点击C扫描视图中缺陷颜色最深位置，当A扫描视图中该缺陷的最高波幅超出验收波幅高度时为不合格；

步骤四二：当缺陷在C扫描视图中显示为多个点状且相距小于25mm时按单个缺陷处理，通过移动探头分别找出相邻两个缺陷的最大反射波高，并分别标记两缺陷最大波幅所对应的探头的位置，测量两个标记点之间的距离，并计算出两缺陷之间的空间距离，视为缺陷尺寸；

步骤四三：当缺陷在C扫描视图中显示为长条形时，先找出缺陷回波最高位置，向长度方向一侧移动探头直至反射波高降至最高波幅的一半，然后向相反方向移动探头，通过最高点直至再次降至最高波幅的一半，测量两点之间的距离，视为缺陷长度；

步骤五：验收准则；

轴承套圈中，当单个不连续指示大于φ0.4-10dB平底孔当量为不合格，反之，为合格，至此，完成了对轴承套圈的缺陷超声检测。