[发明专利]复合绝缘子内部缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种复合绝缘子内部缺陷检测方法，包括步骤，获取复合绝缘子上多个预设位置点的一次温升值；当多个预设位置点的一次温升值中至少有一个满足预设异常温升值时，对复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；获取复合绝缘子上多个预设位置点的二次温升值；根据多个预设位置点的二次温升值之间的关系确定复合绝缘子的发热位置；获取复合绝缘子的发热位置的一次温升值；去除复合绝缘子的发热位置的表层至满足预设深度；对复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；获取复合绝缘子的发热位置的二次温升值；根据发热位置的二次温升值与发热位置的一次温升值之间的关系，输出检测结果。简便、高效且准确的实现复合绝缘子内部缺陷检测。

技术领域

本申请涉及绝缘子检测技术领域，尤其涉及复合绝缘子内部缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

复合绝缘子具有优异的防污性能、机械强度高、不易损坏、运输安装方便，成本低廉。自20世纪80年代起，复合绝缘子开始被大规模应用于电网。

复合绝缘子采用有机材料制造，随着运行年限和环境因素的影响，复合绝缘子发生故障情况也越来越多，成为影响输电线路安全运行的一个重要威胁。复合绝缘子内部发生缺陷，将会直接导致复合绝缘子发生击穿、断串等故障，因此对复合绝缘子内部缺陷进行评判具有重要意义。

现有对于复合绝缘子内部缺陷的检测工序复杂，且检查误差大，导致判定误差率大。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的是提供一种复合绝缘子内部缺陷检测方法，能够简便、高效且准确的实现复合绝缘子内部缺陷检测。

为达到上述技术目的，本申请提供了一种复合绝缘子内部缺陷检测方法，包括步骤：

获取复合绝缘子上多个预设位置点的一次温升值；

当多个所述预设位置点的一次温升值中至少有一个满足预设异常温升值时，对所述复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；

获取复合绝缘子上多个预设位置点的二次温升值；

根据多个所述预设位置点的二次温升值之间的关系确定所述复合绝缘子的发热位置；

获取所述复合绝缘子的发热位置的一次温升值；

去除所述复合绝缘子的发热位置的表层至满足预设深度；

对所述复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；

获取所述复合绝缘子的发热位置的二次温升值；

根据所述发热位置的二次温升值与所述发热位置的一次温升值之间的关系，输出检测结果。

进一步地，还包括；

当多个所述预设位置点的一次温升值中都没有满足预设异常温升值时，输出检测结果。

进一步地，所述根据所述发热位置的二次温升值与所述发热位置的一次温升值之间的关系，输出检测结果具体为：

当所述发热位置的二次温升值较于所述发热位置的一次温升值的下降差值满足预设差值时，输出复合绝缘子存在内部缺陷结果；

当所述发热位置的二次温升值较于所述发热位置的一次温升值的下降差值不满足预设差值时，输出复合绝缘子不存在内部缺陷结果。

进一步地，所述预设深度具体为0.01mm～0.5mm。

一种复合绝缘子内部缺陷检测装置，包括处理单元、表层去除单元、温升值获取单元以及交流电压施加单元；

所述温升值获取单元，分别用于获取复合绝缘子上多个预设位置点的一次温升值以及二次温升值，所述温升值获取单元，还分别用于获取所述复合绝缘子的发热位置的一次温升值以及二次温升值；