[发明专利]气体导入构造、处理装置以及处理方法在审
| 申请号: | 201911376141.2 | 申请日: | 2019-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN111383964A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
| 发明(设计)人: | 石井胜利 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 气体 导入 构造 处理 装置 以及 方法 | ||
1.一种气体导入构造,其具有:
气体导入管,其插入到处理容器内;
和喷出部,其覆盖所述气体导入管的靠所述处理容器侧的端部,将供给到所述气体导入管的气体向所述处理容器内喷出,
所述喷出部包括:多孔质部,其由多孔质体形成;和致密部,其设置于比所述多孔质部靠顶端侧的位置,气孔率比所述多孔质部的气孔率小。
2.根据权利要求1所述的气体导入构造,其中,
所述致密部由气孔率比所述多孔质部的气孔率小的多孔质体形成。
3.根据权利要求1所述的气体导入构造,其中,
所述致密部由与所述气体导入管相同的材料形成。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述致密部的长度比所述多孔质部的长度短。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述致密部的外径比所述多孔质部的外径小。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述多孔质部的长度是25mm~40mm。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述气体导入管由石英管形成。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述多孔质部由石英玻璃多孔体形成。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述喷出部熔接于所述气体导入管。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述气体导入管从所述处理容器的下方插入,向所述处理容器的上方延伸。
11.根据权利要求1~9中任一项所述的气体导入构造,其中,
所述气体导入管从所述处理容器的下方插入,在所述处理容器内水平地延伸。
12.根据权利要求1~11中任一项所述的气体导入构造,其中,
向所述气体导入管供给非活性气体,
所述多孔质部喷出所述非活性气体。
13.一种处理装置,其具备:
处理容器;
气体导入构造,其向所述处理容器内导入气体,
所述气体导入构造具有:
气体导入管,其插入到所述处理容器;
和喷出部,其覆盖所述气体导入管的靠所述处理容器侧的端部,将供给到所述气体导入管的气体向所述处理容器内喷出,
所述喷出部包括:多孔质部,其由多孔质体形成;和致密部,其设置于比所述多孔质部靠顶端侧的位置,气孔率比所述多孔质部的气孔率小。
14.一种处理方法,其是使用了处理装置的处理方法,该处理装置具备:处理容器,其用于收容基板;处理气体导入部,其插入所述处理容器内,向所述处理容器内导入含有蚀刻气体的处理气体;以及吹扫气体导入部,其插入所述处理容器内,向所述处理容器内导入含有非活性气体的吹扫气体,该吹扫气体导入部具有:气体导入管;和喷出部,其覆盖所述气体导入管的靠所述处理容器侧的端部,将导入到所述气体导入管的所述吹扫气体向所述处理容器内喷出,所述喷出部包括:多孔质部,其由多孔质体形成;和致密部,其设置于比所述多孔质部靠顶端侧的位置,气孔率比所述多孔质部的气孔率小,在该处理方法中,
在从所述处理气体导入部向所述处理容器内导入蚀刻气体之际,从所述吹扫气体导入部向所述处理容器内导入所述吹扫气体。
15.根据权利要求14所述的处理方法,其中,
在所述基板未收容于所述处理容器内的状态下导入所述蚀刻气体。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





