[发明专利]光模块老化测试装置在审

专利信息
申请号: 201911370001.4 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN113055086A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 秦强;汪红军;陈晨;吉昌;刘红卫;成锐;黄睿 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B10/073 分类号: H04B10/073
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 姜春咸;冯建基
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 模块 老化 测试 装置
【说明书】:

本公开提供一种光模块老化测试装置,包括:加热模块,所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热,所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块;测试信号提供模块,所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号,以供所述光发射子模块转换为光信号,且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号;监控模块,所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。所述光模块老化测试装置可以对所述光模块进行在线老化测试,提高了测试结果的精确性。

技术领域

本公开涉及通讯领域,具体地,涉及一种光模块老化测试装置。

背景技术

在通讯领域,大量使用光模块、光纤等元器件进行信号转换和传递。为了确保出厂产品为合格品,需要在出厂前对光模块进行高温老化测试。

常用的光模块老化测试方法包括以下步骤:

将待测试的光模块放置在温箱或者高温房中;

通过加热器将温箱或者高温房的空气加热至预定温度;

预定时间后,将光模块取出,并冷却至室温;

在室温中对光模块上电,检测光模块是否正常。

上述光模块老化测试方法为静态测试方法,在高温环境中,光模块并未上电,也部进行业务测试。由于在线实时对光模块进行业务测试,因此无法检测出很多故障,导致劣品外发。

因此,如何提高老化测试的检测精度成为本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

本公开的目的在于提供一种光模块老化测试装置和一种利用该光模块老化测试装置进行的光模块老化测试方法,利用所述光模块老化测试方法对光模块进行老化测试具有较高的检测精度。

为了实现上述目的,作为本公开的第一个方面,提供一种光模块老化测试装置,包括:

加热模块,所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热,所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块;

测试信号提供模块,所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号,以供所述光发射子模块转换为光信号,且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号;

监控模块,所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。

可选地,处于工作状态的所述光模块的参数包括误码率,所述监控模块用于根据所述电信号确定所述光模块的误码率,且所述监控模块用于在所述误码率大于预定值时判定所述光模块不合格。

可选地,处于工作状态的所述光模块的参数还包括所述光模块的电压、所述光模块中的电流、所述光模块的发射功率、所述光模块的接收功率中的至少一者。

可选地,所述光模块老化测试装置还包括通信控制模块,所述通信控制模块与所述加热模块、所述测试信号提供模块以及所述监控模块均通信连接;

所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述加热模块提供加热控制信号,以控制所述加热模块对所述光模块进行加热;

所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述测试信号提供模块提供所述测试信号,并通过所述通信控制模块获取所述光模块的参数。

可选地,所述加热模块包括加热控制单元和加热件,所述加热件设置在所述光模块的金属外壳上,所述监控模块用于控制所述加热控制单元按照预设规则向所述加热件提供电压,直至所述加热件达到第一预设温度为止。

可选地,所述预设规则包括:

按照第一电压增幅增加提供给所述加热件的电压的绝对值,直至所述光模块的温度达到中间温度;

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