[发明专利]光模块老化测试装置在审
申请号: | 201911370001.4 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN113055086A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 秦强;汪红军;陈晨;吉昌;刘红卫;成锐;黄睿 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/073 | 分类号: | H04B10/073 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;冯建基 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模块 老化 测试 装置 | ||
1.一种光模块老化测试装置,包括:
加热模块,所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热,所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块;
测试信号提供模块,所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号,以供所述光发射子模块转换为光信号,且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号;
监控模块,所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。
2.根据权利要求1所述的光模块老化测试装置,其中,处于工作状态的所述光模块的参数包括误码率,所述监控模块用于根据所述电信号确定所述光模块的误码率,且所述监控模块用于在所述误码率大于预定值时判定所述光模块不合格。
3.根据权利要求1所述的光模块老化测试装置,其中,处于工作状态的所述光模块的参数还包括所述光模块的电压、所述光模块中的电流、所述光模块的发射功率、所述光模块的接收功率中的至少一者。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块老化测试装置,其中,所述光模块老化测试装置还包括通信控制模块,所述通信控制模块与所述加热模块、所述测试信号提供模块以及所述监控模块均通信连接;
所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述加热模块提供加热控制信号,以控制所述加热模块对所述光模块进行加热;
所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述测试信号提供模块提供所述测试信号,并通过所述通信控制模块获取所述光模块的参数。
5.根据权利要求4所述的光模块老化测试装置,其中,所述加热模块包括加热控制单元和加热件,所述加热件设置在所述光模块的金属外壳上,所述监控模块用于控制所述加热控制单元按照预设规则向所述加热件提供电压,直至所述光模块达到第一预设温度为止。
6.根据权利要求5所述的光模块老化测试装置,其中,所述预设规则包括:
按照第一电压增幅增加提供给所述加热件的电压的绝对值,直至所述光模块的温度达到中间温度;
按照第二电压增幅增加提供给所述加热件的电压的绝对值,直至所述光模块的温度从所述中间温度达到第一目的温度,其中,所述第一电压增幅大于所述第二电压增幅。
7.根据权利要求5所述的光模块老化测试装置,其中,所述加热件具有片状结构,所述加热件贴附在所述光模块的金属外壳上。
8.根据权利要求4所述的光模块老化测试装置,其中,所述加热模块用于通过所述通信控制模块向所述监控模块反馈所述光模块的温度,所述监控模块用于在所述光模块的温度超过第二预定温度时,控制所述加热模块停止加热。
9.根据权利要求4所述的光模块老化测试装置,其中,所述光模块老化测试装置还包括机框,所述光模块、所述加热模块、所述测试信号提供模块、所述通信控制模块设置在所述机框上。
10.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块老化测试装置,其中,所述光模块老化测试装置还包括冷却模块,所述冷却模块用于对所述光模块老化测试装置中除所述加热模块之外的部分进行冷却。
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