[发明专利]内存接口时序分析方法及系统有效
申请号: | 201911359003.3 | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN111352504B | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 叶佳星;傅祥;欧阳志光 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/01 | 分类号: | G06F3/01;G06F13/16 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 吴轶淳 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内存 接口 时序 分析 方法 系统 | ||
1.一种内存接口时序分析方法,其特征在于,包括:
获取内存接口的第一信号眼图;
根据所述内存接口对应的标准眼高,确定步进偏移值;
根据所述步进偏移值分别将所述第一信号眼图向上、向下平移,获取经平移后的两个信号眼图;
将两个信号眼图叠加,获取重叠区域的第二信号眼图;
根据所述第二信号眼图,获取所述内存接口的最佳位置信息。
2.根据权利要求1所述的内存接口时序分析方法,其特征在于,获取内存接口的第一信号眼图,包括:
根据所述内存接口的寄存器调节范围,确定扫描高度;
将所述内存接口的信号周期长度作为扫描宽度;
根据所述扫描高度及所述扫描宽度扫描所述内存接口的信号,获取所述第一信号眼图。
3.根据权利要求1所述的内存接口时序分析方法,其特征在于,所述步进偏移值是所述标准眼高的二分之一。
4.根据权利要求1所述的内存接口时序分析方法,其特征在于,根据所述步进偏移值分别将所述第一信号眼图向上、向下平移,获取经平移后的两个信号眼图,包括:
根据所述步进偏移值将所述第一信号眼图向上平移,获取第三信号眼图;
根据所述步进偏移值将所述第一信号眼图向下平移,获取第四信号眼图。
5.根据权利要求1所述的内存接口时序分析方法,其特征在于,根据所述第二信号眼图,获取所述内存接口的最佳位置信息,包括:
对所述第二信号眼图进行分析,获取眼图最宽区域;
将所述眼图最宽区域的中间坐标信息作为所述内存接口的最佳位置信息。
6.一种内存接口时序分析系统,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取内存接口的第一信号眼图;
确定单元,用于根据所述内存接口对应的标准眼高,确定步进偏移值;
平移单元,用于根据所述步进偏移值分别将所述第一信号眼图向上、向下平移,获取经平移后的两个信号眼图;
控制单元,用于将两个信号眼图叠加,获取重叠区域的第二信号眼图;
分析单元,用于根据所述第二信号眼图,获取所述内存接口的最佳位置信息。
7.根据权利要求6所述的内存接口时序分析系统,其特征在于,所述获取单元用于根据所述内存接口的寄存器调节范围,确定扫描高度;所述获取单元还用于将所述内存接口的信号周期长度作为扫描宽度;所述获取单元还用于根据所述扫描高度及所述扫描宽度扫描所述内存接口的信号,获取所述第一信号眼图。
8.根据权利要求6所述的内存接口时序分析系统,其特征在于,所述步进偏移值是所述标准眼高的二分之一。
9.根据权利要求6所述的内存接口时序分析系统,其特征在于,所述平移单元用于根据所述步进偏移值将所述第一信号眼图向上平移,获取第三信号眼图;所述平移单元还用于根据所述步进偏移值将所述第一信号眼图向下平移,获取第四信号眼图。
10.根据权利要求6所述的内存接口时序分析系统,其特征在于,所述分析单元用于对所述第二信号眼图进行分析,获取眼图最宽区域;所述分析单元用于还用于将所述眼图最宽区域的中间坐标信息作为所述内存接口的最佳位置信息。
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