[发明专利]基于BMS的快充测试方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种基于BMS的快充测试方法，其特征在于，包括：

获取BMS快充控制模型；

将所述BMS快充控制模型关联至预设充电机模型，以得到闭环模型；

通过所述闭环模型进行快充功能的测试操作；

所述通过所述闭环模型进行快充功能的测试操作，具体包括：

通过预设测试用例测试所述闭环模型，以输出测试报文；

根据所述测试报文的输出状态进行快充功能的测试操作；

若预设测试用例为第一测试用例，则通过所述闭环模型中的BMS快充控制模型建立电池充电需求报文，以输出电池充电需求报文至所述闭环模型中的预设充电机模型；

所述根据所述测试报文的输出状态进行快充功能的测试操作，具体包括：

若所述BMS快充控制模型未成功输出所述电池充电需求报文至所述预设充电机模型，则将与所述电池充电需求报文的输出状态对应的预设标志位的数值调整为第二预设数值，所述第二预设数值与测试失败状态对应；

其中，所述第一测试用例为充电阶段的测试用例，充电阶段包括电池充电需求报文、电池充电总状态报文以及充电机充电状态报文。

2.根据权利要求1所述的基于BMS的快充测试方法，其特征在于，所述通过预设测试用例测试所述闭环模型，以输出测试报文，具体包括：

确定所述预设充电机模型中的CAN报文模型；

通过预设测试用例测试所述闭环模型，并通过所述CAN报文模型输出所述闭环模型生成的测试报文。

3.根据权利要求1所述的基于BMS的快充测试方法，其特征在于，所述通过预设测试用例测试所述闭环模型，以输出测试报文，具体包括：

通过预设测试用例测试所述闭环模型，并调用CAN卡输出所述闭环模型生成的测试报文。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的基于BMS的快充测试方法，其特征在于，所述根据所述测试报文的输出状态进行快充功能的测试操作，具体包括：

若所述闭环模型成功输出所述预设测试用例中包含的测试报文，则将与所述测试报文的输出状态对应的预设标志位的数值调整为第一预设数值，所述第一预设数值与测试成功状态对应。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的基于BMS的快充测试方法，其特征在于，所述通过所述闭环模型进行快充功能的测试操作之后，所述基于BMS的快充测试方法还包括：

若测试失败，则根据测试失败的测试报文对所述BMS快充控制模型中的控制逻辑进行调整，以获得新的BMS快充控制模型。

6.一种基于BMS的快充测试系统，其特征在于，包括：

模型确定模块，用于获取BMS快充控制模型；

模型连接模块，用于将所述BMS快充控制模型关联至预设充电机模型，以得到闭环模型；

快充测试模块，用于通过所述闭环模型进行快充功能的测试操作；

所述快充测试模块，还用于通过预设测试用例测试所述闭环模型，以输出测试报文；

根据所述测试报文的输出状态进行快充功能的测试操作；

若预设测试用例为第一测试用例，则通过所述闭环模型中的BMS快充控制模型建立电池充电需求报文，以输出电池充电需求报文至所述闭环模型中的预设充电机模型；

所述根据所述测试报文的输出状态进行快充功能的测试操作，具体包括：

若所述BMS快充控制模型未成功输出所述电池充电需求报文至所述预设充电机模型，则将与所述电池充电需求报文的输出状态对应的预设标志位的数值调整为第二预设数值，所述第二预设数值与测试失败状态对应；

其中，所述第一测试用例为充电阶段的测试用例，充电阶段包括电池充电需求报文、电池充电总状态报文以及充电机充电状态报文。

7.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5中任一项所述基于BMS的快充测试方法的步骤。

8.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述基于BMS的快充测试方法的步骤。