[发明专利]一种磁矩校正方法

说明书

本发明公开了一种磁矩校正方法，包括以下步骤：S1，制作没有磁矩异向性的磁性微粒；S2，将该磁性微粒均匀分散于非磁性介质中，制成校正样品混合物；S3，通过量测和计算得到校正样品混合物单位重量磁矩值；S4，以校正样品混合物制作校正样品并量测其重量，计算校正样品的磁矩值；S5，利用校正样品对磁性量测设备所测量到的信号进行校正；S6，量测实际待测样品的信号值，并将信号值透过校正结果转换成实际待测样品的磁矩值。本发明利用没有磁矩异向性的磁性微粒，将其与定型辅料混合定型，制作成与实际待测样品形状及尺寸相同或相似的校正样品，并利用校正样品对磁性量测设备进行校正，避免因实际待测样品与校正样品形状、尺寸及位置不同造成的校正误差。

技术领域

本发明具体涉及一种磁矩校正方法。

背景技术

在各种磁场下的磁矩是了解磁性材料的基本物理参数，例如超导量子干涉磁强计(SQUID,Superconducting QUantum Interference Device magnetometer),或振动样品磁强计(VSM,Vibrating Sample Magnetometer)是常见用来量测磁性材料的基础设备，其原来用的磁矩校正存在校正样品非标准化问题，磁矩校正就是能够通过一个磁矩已知的磁性校正样品(具有准确的磁矩值来作为校正参考)来校正磁性量测设备，为准确测量待测样品的磁性做好准备。

在参考文献美国国家标准与技术研究院NIST paper(J.Lindemuth；J.Krause；B.Dodrill,“Finite sample size effects on the calibration of vibrating samplemagnetometer,”IEEE Transactions on Magnetics,2001)中提到“如果磁性量测设备未使用与待测样品尺寸和形状相同的标准样品进行磁矩校正，则会在磁性量测设备结果中造成很大的校正误差。”

目前采用高纯度钯的丝状结构作为超导量子干涉磁强计(SQUID)的标准磁矩校正样品，另外采用高纯度的镍球作为振动样品磁强计(VSM)的标准磁矩校正球。由于纯钯与镍的金属加工繁琐，难以满足使用者有各种形式待测样品的需求。若需要为单一待测样品进行特殊形状的校正样品加工并不实际，因此需要通过提供一种新的校正方法来改进。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明提供一种磁矩校正方法，利用没有磁矩异向性的磁性微粒(如：顺磁纳米颗粒、超顺磁纳米颗粒)，将其与定型辅料混合定型，制作成与实际待测样品形状及尺寸相同或相似的校正样品，并利用该校正样品对磁性量测设备进行校正，避免因实际待测样品与校正样品形状及尺寸不同造成的校正误差。

为了实现上述目的，本发明的目的是提供一种磁矩校正方法，包括以下步骤：

S1：制作没有磁矩异向性的磁性微粒；

S2：将S1所制作的磁性微粒均匀分散于非磁性介质中，制成校正样品混合物，所述校正样品混合物为能够形成任意形状的固体；

S3：通过量测和计算得到所述校正样品混合物单位重量的磁矩值；

S4：以所述校正样品混合物制作各种形状的校正样品并量测其重量，计算所述校正样品的磁矩值；

S5：利用校正样品的磁矩值，对磁性量测设备的测量信号进行校正；

S6：量测实际待测样品的信号值，并将所述信号值透过校正结果转换成实际待测样品的磁矩值。

优选地，S1中，所述磁性微粒为固体粉状或液体状的顺磁或超顺磁纳米颗粒，所述磁性微粒内部的磁矩能够随时顺着外加磁场方向。

优选地，S2中，所述非磁性介质为非磁性材料的定型辅料。

更优选地，所述非磁性介质为高分子材料、水泥、石膏、黏土或其他可塑形材料。