[发明专利]一种磁矩校正方法

权利要求书

1.一种磁矩校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：制作没有磁矩异向性的磁性微粒；

S2：将S1所制作的磁性微粒均匀分散于非磁性介质中，制成校正样品混合物，所述校正样品混合物为能够形成任意形状的固体；

S3：通过量测和计算得到所述校正样品混合物单位重量的磁矩值；

S4：以所述校正样品混合物制作各种形状的校正样品并量测其重量，计算所述校正样品的磁矩值；

S5：利用校正样品的磁矩值，对磁性量测设备的测量信号进行校正；

S6：量测实际待测样品的信号值，并将所述信号值透过校正结果转换成实际待测样品的磁矩值。

2.根据权利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S1中，所述磁性微粒为固体粉状或液体状的顺磁或超顺磁纳米颗粒，所述磁性微粒内部的磁矩能够随时顺着外加磁场方向。

3.根据权利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S2中，所述非磁性介质为非磁性材料的定型辅料。

4.根据权利要求3所述的磁矩校正方法，其特征在于，所述非磁性介质为高分子材料、水泥、石膏、黏土或其他可塑形材料。

5.根据权利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S3的具体过程如下：将所述校正样品混合物制成标准球，所述标准球与原始设备上所用的校正球尺寸形状一致或相近，在已经通过校正的磁性量测设备上量测出所述标准球对应的磁滞回线，由磁滞回线能够得知某一磁场下标准球的磁矩，选用饱和磁化区间内的磁场所对应磁矩值为参考依据，再用磁矩除以所述标准球的重量，得到标准球在对应磁场中的单位重量磁矩值。

6.根据权利要求1或5所述的磁矩校正方法，其特征在于，S4的具体过程如下：将所述校正样品混合物制成与实际待测样品形状及尺寸相同或相似的校正样品，并量测所述校正样品的重量，用校正样品的重量乘以S3中得到的单位重量的磁矩值，得到对应磁场中所述校正样品的磁矩值。

7.根据权利要求6所述的磁矩校正方法，其特征在于，S4中，将校正样品混合物制成与实际待测样品形状及尺寸相同或相似的校正样品，所采用的方式为模具定型或切割或3D打印或其他定型技术。

8.根据权利要求6所述的磁矩校正方法，其特征在于，S5的具体过程如下：将所述校正样品在即将量测实际待测样品的磁性量测设备上进行校正量测过程，并记录所述磁性量测设备量测到的原始信号值，得到所述信号值与S4中所得到的磁矩值的比值关系。

9.根据权利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S5中，所述校正样品与实际待测样品在量测过程中的放置位置与摆放方式相同或相似。

10.根据权利要求8所述的磁矩校正方法，其特征在于，S6的具体过程如下：采用S5中的所述磁性量测设备量测实际待测样品，并通过S5中的比值关系将量测到的实际待测样品对应的信号值转换成实际待测样品的磁矩值。

11.根据权利要求10所述的磁矩校正方法，其特征在于，所述S4、S5和S6中校正样品与实际待测样品形状均为球形、圆盘形薄膜、方形薄膜、矩形薄膜、三角形薄膜、圆柱形、三角柱形、正方体、长方体或其他任意形状。