[发明专利]标准单元库的测试方法

说明书

本发明提供一种标准单元库的测试方法，在所述的标准单元库的测试方法中，通过对所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元输入测试信号，以得到组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号；分别选取所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据；以及将选取的所述组合逻辑单元输出信号中的数据与一组合逻辑测试数据比较，以及将选取的所述时序逻辑单元输出信号中的数据与一时序逻辑测试数据比较，以测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能是否正常。由此，通过设置所述测试信号测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能，从而减少测试向量，提高工作的效率。

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术技术领域，特别涉及一种标准单元库的测试方法。

背景技术

现今对标准单元库的测试方法是将组合逻辑单元和时序逻辑单元分成两个模块。这两个模块的端口类型相同，可以共用输入端，但是分别对这两个模块给予不同的测试信号进行测试。现有的测试方法在测试组合逻辑单元时，对有n个端口的单元设置2ⁿ个测试向量进行测试。如图1所示，测试信号01，输出信号02,如果是由100个单元组成的标准单元库，其中有60个为组合逻辑单元，那么就要设置60*2ⁿ个测试向量。如图2所示，现有方法是在测试时序逻辑单元的功能时，输入测试信号01，当时钟信号03输入时，对有置位和复位功能的单元都要先置位再测试或者先复位再测试，然后输出信号02。每个单元需测试4*2ⁿ个测试向量。如果一套有100个单元组成的标准单元库，其中有40个为时序逻辑单元，就要设置40*4*2ⁿ个测试向量。这样100个单元组成的标准单元库就需要60*2n+40*4*2ⁿ个测试向量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种标准单元库的测试方法，以解决测试向量多和工作效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种标准单元库的测试方法，包括：

提供标准单元库，所述标准单元库包括组合逻辑单元和时序逻辑单元；

对所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元输入测试信号，以得到组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号；

分别选取所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据；

将选取的所述组合逻辑单元输出信号中的数据与一组合逻辑测试数据比较，以及将选取的所述时序逻辑单元输出信号中的数据与一时序逻辑测试数据比较，以测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能是否正常；

其中，所述组合逻辑测试数据通过测试所述组合逻辑单元的电压信号得到；所述时序逻辑测试数据通过测试所述时序逻辑单元的电压信号得到。

可选的，在所述的标准单元库的测试方法中，所述测试信号为周期性信号，且所述测试信号的占空比为1/2。

可选的，在所述的标准单元库的测试方法中，选取组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号中的数据的方法包括：选取1/8t至2ⁿ⁺³t的时间段内，每间隔1/4t的测试信号所对应的所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据；其中，n＞1，t表示为所述测试信号的周期。

可选的，在所述的标准单元库的测试方法中，所述测试信号包括信号A₁～A_n+x+y,其中，对所述组合逻辑单元输入所述信号A₁～A_n，对所述时序逻辑单元输入所述信号A₁～A₅和A_n+1～A_n+X+y；其中，A表示为信号，n表示为所述信号的序号，n＞5，x＞1，y＞1。

可选的，在所述的标准单元库的测试方法中，所述组合逻辑单元包括组合逻辑输入端口，测试所述组合逻辑单元功能是否正常的方法包括：