[发明专利]电路板智能检测方法、装置、系统及存储介质

权利要求书

1.一种电路板智能检测方法，包括：

在侦测到设定指令时，根据历史检测数据和决策指标设定检测参数；其中，所述检测参数包括目标物体总数、第一良率阈值及第二良率阈值；

在侦测到第一检测指令时，获取第一数量的目标物体并执行全面检测，并根据所述第一数量的目标物体对应的检测结果统计第一良率；其中，所述第一数量小于所述目标物体总数；

在侦测到第一比较指令时，判断所述第一良率是否小于所述第一良率阈值；

在所述第一良率大于等于所述第一良率阈值时，获取第二数量的目标物体并执行全面检测，并根据所述第二数量的目标物体对应的检测结果统计第二良率；其中，所述第二数量小于所述目标物体总数；

在侦测到第二比较指令时判断所述第二良率是否小于所述第二良率阈值；

在所述第二良率大于等于所述第二良率阈值时，将剩余的目标物体执行抽样检测。

2.如权利要求1所述的电路板智能检测方法，其特征在于，所述检测参数还包括第三良率阈值；所述电路板智能检测方法还包括：

根据所述剩余的目标物体的检测结果统计第三良率；

判断所述第三良率是否小于所述第三良率阈值；

在所述第三良率小于所述第三良率阈值时，对执行抽样检测的所述目标物体执行全面检测。

3.如权利要求1所述的电路板智能检测方法，其特征在于，所述第二数量为通过基于所述第一良率建立指定函数得出。

4.如权利要求1所述的电路板智能检测方法，其特征在于，所述全面检测包括多个测试项目；其中，所述多个测试项目包括至少一个必检项目和多个可删减项目；所述抽样检测为从剩余的所述目标物体中的抽取部分并执行所述至少一个必检项目并选择性地执行部分所述可删减项目。

5.如权利要求1所述的电路板智能检测方法，其特征在于，所述电路板智能检测方法还包括：

在所述第一良率小于所述第一良率阈值或在所述第二良率小于所述第二良率阈值时，对所述剩余的目标物体执行全面检测。

6.如权利要求1所述的电路板智能检测方法，其特征在于，所述电路板智能检测方法包括多个决策指标和多组历史检测数据；每个所述决策指标对应多组所述历史检测数据；其中，每个所述决策指标中的最小数值对应的所述历史检测数据为优选检测数据；所述历史检测数据包括历史目标物体总数、基准全面检测数量以及剩余检测数量；所述电路板智能检测方法还包括：

根据用户的输入从多个决策指标中选择一个作为目标决策指标；

获取目标决策指标对应的历史目标物体总数作为目标物体总数，并获取目标决策指标对应的历史基准全面检测数量作为基准全面检测数量；

设定第一良率阈值、第二良率阈值以及第三良率阈值。

7.一种电路板智能检测装置，包括：

设定模块，用于在侦测到设定指令时根据历史检测数据和决策指标设定检测参数；其中，所述检测参数包括目标物体总数、第一良率阈值及第二良率阈值；

第一检测模块，用于在侦测到第一检测指令时获取第一数量的目标物体并执行全面检测，并根据所述第一数量的目标物体对应的检测结果统计第一良率；其中，所述第一数量小于所述目标物体总数；

第一比较模块，用于在侦测到第一比较指令时判断所述第一良率是否小于所述第一良率阈值；

第二检测模块，用于在所述第一良率大于等于所述第一良率阈值时获取第二数量的目标物体并执行全面检测，并根据所述第二数量的目标物体对应的检测结果统计第二良率；其中，所述第二数量小于所述目标物体总数；

第二比较模块，在侦测到第二比较指令时判断所述第二良率是否小于所述第二良率阈值；以及

第三检测模块，用于在所述第二良率大于等于所述第二良率阈值时，将剩余的目标物体执行抽样检测。