[发明专利]一种测量吸波材料反射率的方法

说明书

本发明公开了一种测量吸波材料反射率的方法，该方法包括在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。本发明中采用的测量方法可有效地解决以上不足，该方法在不需要分离吸波材料或参考金属板反射信号的同时，通过改变测量距离，选择合理的测量方法，来计算获得平板吸波材料反射率。通过使用该方法，不仅可以减小信号时频域转换过程中的截断误差，还可以有效降低收发天线直接耦合信号与空间杂散信号对反射信号的影响，进而提高反射率测量准确度，减小测量误差。

技术领域

本发明涉及测量测试技术领域。更具体地，涉及一种测量吸波材料反射率的方法。

背景技术

平板吸波材料主要用于吸收照射到其表面的电磁波，减小反射信号，不同平板吸波材料对电磁波的吸收和反射能力不同，通常采用吸波材料反射率来表征平板吸波材料的反射性能。常用的平板吸波材料反射率测量方法为收发天线照射方法，该方法的原理是通过比较被测平板吸波材料反射信号与同尺寸参考金属板反射信号，采用两个反射信号来计算平板吸波材料反射性能。

在传统测量方法，接收天线送入信号接收设备的信号包括三部分：发射天线直接耦合到接收天线的信号；发射天线辐射到平板吸波材料或参考金属板，经由平板吸波材料或参考金属板反射到接收天线的信号；测量空间内其余反射物产生的杂散信号，其中，第二部分，平板吸波材料或参考金属板反射信号是计算材料反射率所需的信号，因此需要将该部分信号分离出来。常用的信号处理方法为，将频域信号转换到时域，根据时域信号的不同时间，从时间上将三部分信号分离开来，然后将时域信号再转换到频域，获得测量结果。频域信号转换到时域、再转换到频域的过程中，存在数据截断，会给测量结果引入截断误差；其次，在时间上对信号进行分离时，时间窗的不同位置会导致测量结果的差异；再次，由于收发天线耦合路径较近，与反射信号相比，收发天线直接耦合信号幅度相当或更大，将较小的反射信号从较大的直接耦合信号中完全分离，难以实现；同时由于天线测量支架、空间反射物的存在，空间杂散信号难以完全消除，而且其幅度较小，容易混入吸波材料或参考金属板反射信号中，难以分离。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量吸波材料反射率的方法，该方法在不需要分离吸波材料或参考金属板反射信号的同时，通过改变测量距离，选择合理的测量方法，来计算获得平板吸波材料反射率。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种测量吸波材料反射率的方法，该方法包括步骤如下：

在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；

基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。

优选地，该方法进一步包括：

在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第一次反射测试；

改变测试条件，在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第二次反射测试；

将所述待测吸波材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与上述待测吸波材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同测试条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第一信号总量的差值；

将所述参照材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与所述参照材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第二信号总量的差值；

基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测吸波材料的反射率。