[发明专利]一种测量吸波材料反射率的方法

权利要求书

1.一种测量吸波材料反射率的方法，其特征在于，该方法包括步骤如下：

在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；

基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括：

在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第一次反射测试；

改变测试条件，在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第二次反射测试；

将所述待测吸波材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与上述待测吸波材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同测试条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第一信号总量的差值；

将所述参照材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与所述参照材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第二信号总量的差值；

基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测吸波材料的反射率。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料为平板吸波材料。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参照材料为金属板。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料与所述参

照材料的尺寸相同。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述反射测试的测试次数至少为2次。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述反射测试的信号由信号发生器产生，经发射天线辐射，被接收天线接收后送入信号接收设备。

8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号S₁包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号S_oh1，所述发射天线辐射到所述待测吸波材料后由所述测吸波材料反射到所述接收天线的信号S_cl1，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号S_zs1；

所述待测吸波材料在第二次反射测试中由信号接收设备接收到的信号S₂包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号S_oh2，所述发射天线辐射到所述待测吸波材料后由所述待测吸波材料反射到所述接收天线的信号S_cl2，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号S_zs2；

所述参照材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号M₁包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号M_oh1，所述发射天线辐射到所述参照材料后由所述参照材料反射到所述接收天线的信号M_js1，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号M_zs1；

所述参照材料在第二次反射测试中由信号接收设备接收到的信号M₂包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号M_oh2，所述发射天线辐射到所述参照材料后由所述参照材料反射到所述接收天线的信号M_js2，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号M_zs2。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料的反射率如公式(1)所示，

其中，τ表示待测吸波材料的反射率。