[发明专利]一种Micro-LED芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201911292246.X 申请日: 2019-12-13
公开(公告)号: CN111430518A 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 蒋振宇;闫春辉 申请(专利权)人: 深圳第三代半导体研究院
主分类号: H01L33/08 分类号: H01L33/08;H01L33/18;H01L21/3065;H01L33/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 micro led 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种Micro-LED芯片,其特征在于,所述Micro-LED芯片包括:

缓冲层;

发光外延层,包括依次层叠设置于所述缓冲层的一侧主表面上的第一导电类型半导体层、量子阱层以及第二导电类型半导体层,其中所述第二导电类型半导体层、量子阱层以及第一导电类型半导体层形成部分外露所述第一导电类型半导体层的台面结构,所述台面结构进一步由以离子轰击方式形成的一体绝缘区划分成阵列排布且彼此独立的多个发光单元。

2.根据权利要求1所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述Micro-LED芯片进一步包括:

第一导电类型电极,设置于所述第一导电类型半导体层由所述台面结构外露的部分上,并与所述第一导电类型半导体层电连接;

第二导电类型电极,设置于所述台面结构的顶部,并与各所述发光单元的所述第二导电类型半导体层电连接。

3.根据权利要求2所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述Micro-LED芯片进一步包括设置于所述第二导电类型半导体层和所述第二导电类型电极之间的反射镜层。

4.根据权利要求3所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述反射镜层为一体结构,并覆盖于所述一体绝缘区和所述多个发光单元上。

5.根据权利要求3所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述Micro-LED芯片进一步包括覆盖所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极的绝缘层,所述绝缘层上设置有分别外露所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极的第一开口和第二开口,所述Micro-LED芯片分别经所述第一开口和第二开口电连接至所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极的第一导电类型焊盘和第二导电类型焊盘。

6.根据权利要求1所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述多个发光单元沿所述缓冲层的主表面的平行方向的横截面积和/或间距呈非均匀分布。

7.根据权利要求6所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述多个发光单元沿所述缓冲层的主表面的平行方向的横截面积在靠近所述第一导电类型电极的方向上逐渐增大,并且/或者所述多个发光单元沿所述缓冲层的主表面的平行方向的间距在靠近所述第一导电类型电极的方向上逐渐变小。

8.根据权利要求6所述的Micro-LED芯片,其特征在于,所述多个发光单元沿所述缓冲层的主表面的平行方向的横截面积从所述台面结构的中部向两端逐渐增大或减小,并且/或者所述多个发光单元沿所述缓冲层的主表面的平行方向的间距从所述台面结构的中部向两端逐渐减小或增大。

9.一种Micro-LED芯片的制造方法,其特征在于,所述Micro-LED芯片包括:

提供一衬底;

在所述衬底的一侧主表面上形成缓冲层;

在所述缓冲层远离所述衬底的主表面上形成发光外延层,所述发光外延层包括依次层叠设置于所述缓冲层的所述主表面上的第一导电类型半导体层、量子阱层以及第二导电类型半导体层;

对所述第二导电类型半导体层、量子阱层以及第一导电类型半导体层进行图案化和离子轰击,以形成部分外露所述第一导电类型半导体层的台面结构,并使得所述台面结构进一步由以离子轰击方式形成的一体绝缘区划分成彼此独立的多个发光单元;

在所述第一导电类型半导体层由所述台面结构外露的部分上形成第一导电类型电极,其中所述第一导电类型电极与所述第一导电类型半导体层电连接;

在所述台面结构的顶部形成第二导电类型电极,其中第二导电类型电极与各所述发光单元的所述第二导电类型半导体层电连接。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述对所述台面结构进行图案化离子轰击的步骤之后,进一步包括:

在所述台面结构上进一步形成反射镜层,其中所述反射镜层为一体结构,并覆盖于所述一体绝缘区和所述多个发光单元上。

11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包括:

利用绝缘层覆盖所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极,并在所述绝缘层上形成分别外露所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极的第一开口和第二开口;

形成分别经所述第一开口和第二开口电连接至所述第一导电类型电极和所述第二导电类型电极的第一导电类型焊盘和第二导电类型焊盘。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳第三代半导体研究院,未经深圳第三代半导体研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911292246.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top