[发明专利]缺陷检测方法、装置及终端设备

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取被测物的二维图像和深度图像；

对所述二维图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第一缺陷信息；其中，第一缺陷信息包括各个缺陷的位置，并利用区域填充算法对该区域内的空白区域进行填充，得到完整的目标区域；

对所述深度图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第二缺陷信息；其中，第二缺陷信息包括各个缺陷的位置；

获取所述第一缺陷信息和第二缺陷信息中均包含的目标缺陷信息，将所述目标缺陷信息识别为所述被测物的缺陷信息，包括：

比对第一缺陷信息和第二缺陷信息，找到两者中共同的缺陷信息，通过计算两者的相似度来确定共同的缺陷信息；或者比对两者中各个缺陷点的位置坐标，两者中相同或者接近的位置坐标确定为共同的缺陷信息。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述获取被测物的二维图像和深度图像包括：

获取每次采集到的局部二维图像，对所有的所述局部二维图像进行拼接，得到所述被测物的二维图像；

获取每次采集到的局部深度图像，对所有的所述局部深度图像进行拼接，得到所述被测物的深度图像。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述二维图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第一缺陷信息，包括：

对所述二维图像进行灰度化，得到二维灰度图像；

对所述二维灰度图像进行目标区域划分，得到包含所述第一缺陷信息的目标区域；

对所述目标区域进行图像处理，得到所述第一缺陷信息。

4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标区域进行图像处理，得到所述第一缺陷信息，包括：

根据预设的第一灰度分割门限值对所述目标区域进行图像分割，得到多个分割图像；

若第一分割图像的灰度值与预设的第一灰度门限值之间的差值的绝对值大于预设的第一误差门限值，则将所述第一分割图像的信息识别为所述第一缺陷信息；其中，所述第一分割图像为所述多个分割图像中的任一个。

5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述深度图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第二缺陷信息，包括：

根据预设的第二灰度分割门限值对所述深度图像进行图像分割，得到多个分割图像；

若第二分割图像的灰度值与预设的第二灰度门限值之间的差值的绝对值大于预设的第二误差门限值，则将所述第二分割图像的信息识别为所述第二缺陷信息；其中，所述第二分割图像为所述多个分割图像中的任一个。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述第二灰度门限值为所述深度图像中出现频率最高的灰度值。

7.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法还包括：

对所述目标缺陷信息在图像上的位置进行坐标转换，得到所述目标缺陷信息在所述被测物上的位置。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取被测物的二维图像和深度图像；

第一缺陷信息获取模块，用于对所述二维图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第一缺陷信息；其中，第一缺陷信息包括各个缺陷的位置，并利用区域填充算法对该区域内的空白区域进行填充，得到完整的目标区域；

第二缺陷信息获取模块，用于对所述深度图像进行图像处理，基于图像处理结果获取所述被测物的第二缺陷信息；其中，第二缺陷信息包括各个缺陷的位置；

被测物缺陷信息获取模块，用于获取所述第一缺陷信息和第二缺陷信息中均包含的目标缺陷信息，将所述目标缺陷信息识别为所述被测物的缺陷信息，包括：

比对第一缺陷信息和第二缺陷信息，找到两者中共同的缺陷信息，通过计算两者的相似度来确定共同的缺陷信息；或者比对两者中各个缺陷点的位置坐标，两者中相同或者接近的位置坐标确定为共同的缺陷信息。