[发明专利]一种非规则曲面的粗糙度测量方法

权利要求书

1.一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

（1）打开二维粗糙度分析软件；

（2）根据待测零件特征，设定软件中的测量模式为曲面测量模式；

（3）选择测量的起始点和结束点以及高低点的落差范围；

（4）设定曲面测量模式中的各个测量条件参数；

（5）点击开始按钮，测量设备根据设定轨迹进行粗糙度测量；

（6）测量结果显示。

2.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（3）所述起始点选择在单个曲面上，且位于波峰波谷的中间位置。

3.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（3）中起始点与结束点之间至少包括一个波峰和一个波谷。

4.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（3）高低点之间的落差大于待测零件的实际高低落差。

5.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（4）所述测量条件参数包括测量类型、滤波类型、倾斜修正、测量长度、截止波长、测量范围、测量速度、截止比、移动/返回速度、返回设定、预留驱动长度、纵向倍率和横向倍率。

6.根据权利要求5所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：所述测量类型选择粗糙度测量；滤波类型选择高斯滤波器；测量长度为至少3个取样长度；测量范围大于待测零件的实际高低落差；测量速度0.3-0.5mm/s。

7.根据权利要求5所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：所述倾斜修正选择花键曲线修正。

8.根据权利要求7所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：所述花键曲线修正中分割数数值为40。

9.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（5）所述测量设备采用东京精密的S1400G粗糙度测量仪。

10.根据权利要求1所述的一种非规则曲面的粗糙度测量方法，其特征在于：步骤（6）所述测量结果通过曲线图进行显示。