[发明专利]位置预估方法、空间变换判断方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种位置预估方法，其特征在于，包括：

获取待定位设备在地图中的样本位姿点，以及各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的位姿变化量；

根据各所述样本位姿点，以及各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的位姿变化量，确定各所述样本位姿点对应的第一预估位姿点；

获取各所述第一预估位姿点的概率值；所述第一预估位姿点的概率值为该第一预估位姿点所属的地图栅格中，存在所述待定位设备的概率值；

以各所述第一预估位姿点的概率值作为各所述第一预估位姿点的权重值，对所述第一预估位姿点进行粒子滤波重采样，得到第二预估位姿点集合；所述粒子滤波重采样将剔除权重值小的所述第一预估位姿点，并补充权重值大的位姿点；

基于所述第二预估位姿点集合确定所述待定位设备的预估位置；所述预估位置为所述待定位设备下一时刻的预估位置。

2.如权利要求1所述的位置预估方法，其特征在于，所述样本位姿点，以及所述样本位姿点对应的第一预估位姿点包括在预设的地图坐标系中的x轴坐标和y轴坐标；所述位姿变化量包括各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的x轴位移变化量Δx和y轴位移变化量Δy；

所述根据各所述样本位姿点，以及各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的位姿变化量，确定各所述样本位姿点对应的第一预估位姿点包括：

按照公式：

x^*＝P_N·x+Δx，y^*＝P_N·y+Δy，确定出各所述样本位姿点对应的第一预估位姿点；其中：

所述P_N·x为样本位姿点在所述地图坐标系中的x轴坐标，所述P_N·y为样本位姿点在所述地图坐标系中的y轴坐标；x^*为所述样本位姿点对应的第一预估位姿点在所述地图坐标系中的x轴坐标；y^*为所述样本位姿点对应的第一预估位姿点在所述地图坐标系中的y轴坐标。

3.如权利要求1所述的位置预估方法，其特征在于，所述样本位姿点，以及所述样本位姿点对应的第一预估位姿点包括在预设的地图坐标系中的x轴坐标、y轴坐标以及角度值；所述位姿变化量包括各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的x轴位移变化量Δx、y轴位移变化量Δy以及角度值变化量Δθ；

所述根据各所述样本位姿点，以及各所述样本位姿点与上一时刻相比出现的位姿变化量，确定各所述样本位姿点对应的第一预估位姿点包括：

按照公式：

d_r2＝|Δθ-d_r1|；

x^*＝P_N·x+d_t×cos(P_N·θ+d_r1)，

y^*＝P_N·y+d_t×sin(P_N·θ+d_r1)，

θ^*＝P_N·θ+d_r1+d_r2；

确定出各所述样本位姿点对应的第一预估位姿点；其中：

所述P_N·x为样本位姿点在所述地图坐标系中的x轴坐标，所述P_N·y为样本位姿点在所述地图坐标系中的y轴坐标，所述P_N·θ为样本位姿点在所述地图坐标系中的角度值；

所述x^*为所述样本位姿点对应的第一预估位姿点在所述地图坐标系中的x轴坐标，所述y^*为所述样本位姿点对应的第一预估位姿点在所述地图坐标系中的y轴坐标，所述θ^*为所述样本位姿点对应的第一预估位姿点在所述地图坐标系中的角度值。

4.如权利要求1-3任一项所述的位置预估方法，其特征在于，所述基于所述第二预估位姿点集合确定所述待定位设备的预估位置包括：

基于所述第二预估位姿点集合中的各第二预估位姿点，确定所述第二预估位姿点集合的平均位姿点，所述平均位姿点为所述预估位置。