[发明专利]一种TOPCon电池及其制作方法在审
申请号: | 201911260878.8 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN110911528A | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 徐冠群;金井升;张昕宇;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 田媛媛 |
地址: | 314416 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 topcon 电池 及其 制作方法 | ||
1.一种TOPCon电池制作方法,其特征在于,包括:
获得正面具有扩散区域的硅衬底;
在所述硅衬底的所述正面和侧面形成掩膜层;
在所述硅衬底的背面形成氧化层;
在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成掺杂型多晶硅层;
去除位于所述正面的绕镀多晶硅;
去除所述掩膜层;
在所述硅衬底的所述正面形成第一钝化层;
在所述掺杂型多晶硅层的背离所述氧化层的表面形成第二钝化层;
在所述第一钝化层背离所述硅衬底的表面形成第一电极;
在所述第二钝化层背离所述掺杂型多晶硅层的表面形成第二电极。
2.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,所述在所述硅衬底的所述正面和侧面形成掩膜层包括:
采用等离子增强化学气相沉积法、常压化学气相沉积法、低压化学气相沉积法中的任一种方法,在所述硅衬底的所述正面和所述侧面形成所述掩膜层。
3.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在所述硅衬底的背面形成氧化层之后,还包括:
在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成本征多晶硅层;
相应的,在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成掺杂型多晶硅层包括:
在所述本征多晶硅层背离所述氧化层的表面形成掺杂型多晶硅层。
4.如权利要求3所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成本征多晶硅层包括:
采用低压力化学气相沉积法或者等离子体增强化学气相沉积法,在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成所述本征多晶硅层。
5.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,获得正面具有扩散区域的硅衬底包括:
获得原始硅片;
对所述原始硅片的表面进行扩散处理,形成扩散区域;
刻蚀扩散后硅片的背面,得到所述硅衬底。
6.如权利要求5所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在对所述原始硅片的表面进行扩散处理之前,还包括:
对所述原始硅片进行制绒;
相应的,对所述原始硅片的表面进行扩散处理包括:
对制绒后硅片的表面进行扩散处理。
7.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在所述硅衬底的背面形成氧化层包括:
采用高温热氧氧化法,在所述硅衬底的背面形成所述氧化层。
8.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在所述硅衬底的所述正面形成第一钝化层包括:
采用原子层沉积法,在所述硅衬底的所述正面形成所述第一钝化层。
9.如权利要求1所述的TOPCon电池制作方法,其特征在于,在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成掺杂型多晶硅层包括:
在所述氧化层背离所述硅衬底的表面形成非晶硅层;
对所述非晶硅层进行扩散处理,形成所述掺杂型多晶硅层。
10.一种TOPCon电池,其特征在于,所述TOPCon电池由权利要求1至9任一项所述的TOPCon电池制作方法得到。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的