[发明专利]一种工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置

权利要求书

1.一种工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：包括基准位平衡机构、测点位测量机构和连通导管；

基准位平衡机构包括第一储液槽，第一储液槽上设有第一进液口、溢流口、第一出液口，第一出液口的高度小于溢流口的高度，第一出液口处设有第一阀门；

测点位测量机构和连通导管均有N个，测点位测量机构包括第二储液槽和测量管组，第二储液槽上设有第二进液口、第二出液口A和第二出液口B，第二出液口A倾斜设置，第二出液口A上设有第二阀门A，第二出液口B上设有第二阀门B，测量管组包括导流管和多个测量管，测量管的下端密封，测量管的上端开口，测量管上设有刻度，零刻度线位于测量管的下端，最大的刻度线位于测量管的上端口处，多个测量管沿着导流管的延伸方向依次分布，且各测量管的上端口与导流管连通；

在各测点位测量机构中，导流管的一端与第二出液口A出口连通，导流管的水平高度自其与第二出液口A连接的一端到其另一端的延伸方向依次降低；

N个第二储液槽依次连通，在两个相互连通的第二储液槽中，在前的第二储液槽的第二出液口B通过连通导管与在后的第二储液槽的第二进液口连通，第一储液槽的第一出液口通过连通导管与位于首位的第二储液槽内的第二进液口连通，当第一储液槽和各第二储液槽放置于同一水平面上时，各第二储液槽的第二进液口、第二出液口A和第二出液口B均不高于第一储液槽的溢流口；

所述的第一进液口和第一出液口对称设置于第一储液槽侧壁的底部上，第二进液口和第二出液口B对称设置于第二储液槽侧壁底部上，当第一储液槽和各第二储液槽放置于同一水平面上时，所述第二储液槽的第二出液口A与第一储液槽的溢流口高度相等。

2.根据权利要求1所述的工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：所述的导流管呈蛇形，导流管包括多个直管段和U型连接管段，各直管段均倾斜设置，U型连接管的分别和与其相邻的两直管段的一端连通。

3.根据权利要求1所述的工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：所述的测量管组还包括旋转套管，导流管的一端通过旋转套管与第二出液口A连接，导流管可绕着其轴线旋转。

4.根据权利要求3所述的工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：所述的旋转套管包括外层管和内层管，外层管和内层管的轴线相同，内层管的一端口与外层管的内壁连接，内层管和外层管的一侧之间形成环形的卡槽，第二出液口A出口插入外层管的另一侧内，导流管的一端插入卡槽中。

5.根据权利要求1所述的工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：所述的第一储液槽和测量管均呈圆柱状，第一储液槽的直径为测量管直径的10倍。

6.根据权利要求1所述的工程结构高程与沉降变形的高精度测量装置，其特征在于：第二出液口A和第二出液口B的夹角为90度，第二进液口和第二出液口B在平行于第二水槽底部的平面上的投影位于同一条直线上。