[发明专利]用于检测及报告存储器装置的故障的存储器装置及方法

说明书

本发明描述用于检测及报告存储器装置的故障的存储器装置及方法。当位翻转错误的计数高于故障阈值时，存储器装置可报告故障。故障报告可指示所述存储器装置正累积错误的速率。替代例如标准化阈值或所规定阈值等默认故障阈值，可应用偏移故障阈值。所述偏移故障阈值可为所述默认故障阈值与从初始错误计数确定的偏移的和，所述初始错误计数是在所述存储器装置因使用而累积错误之前确定。

技术领域

本发明大体来说涉及存储器装置，且更具体来说，涉及基于定制阈值而检测及报告存储器装置中的故障。

背景技术

存储器装置广泛地用于存储与各种电子装置(例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等等)相关的信息。存储器装置可为易失性或非易失性且可为各种类型，例如磁性硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、动态RAM(DRAM)、同步动态RAM(SDRAM)及其它。通过将存储器单元充电为具有不同状态而将信息存储于各种类型的RAM中。改进RAM存储器装置通常可包含增加存储器单元密度、增加读取/写入速度，或者以其它方式减少操作等待时间、减少处理开销、增加可靠性、增加数据保持、减少电力消耗或减少制造成本，以及其它度量。

发明内容

在一个方面中，本申请案提供一种存储器装置，其包括：存储器阵列；第一电路，其经配置以检查所述存储器阵列的至少一部分中的错误且确定所找出的错误的计数；及第二电路，其经配置以：基于默认故障阈值及由所述第一电路找出的初始错误计数而确定偏移故障阈值；将由所述第一电路找出的后续错误计数与所述偏移故障阈值进行比较；且当所述比较指示由所述第一电路找出的所述后续错误计数大于所述偏移故障阈值时，致使进行故障程序步骤。

在另一方面中，本申请案进一步提供一种方法，其包括：经由错误检查程序步骤确定存储器装置的初始错误计数；识别默认故障阈值；基于所述初始错误计数与所述默认故障阈值的和而计算偏移故障阈值；将所述偏移故障阈值与通过另一次实施所述错误检查程序步骤所得的另一错误计数进行比较；及当所述另一错误计数大于所述偏移故障阈值时，起始故障程序步骤。

在又一方面中，本申请案进一步提供一种方法，其包括：基于存储器装置的默认故障阈值及初始错误计数而确定偏移故障阈值；在所述存储器装置的存储器阵列的至少一部分中执行错误检查以确定错误计数；将所述错误计数与所述偏移故障阈值进行比较；及在所述存储器装置处响应于所述比较指示所述错误计数大于所述偏移故障阈值而起始故障程序步骤。

附图说明

将从下文所给出的详细描述及从本发明的各种实施例的附图更完全地理解本发明。

图1图解说明示意性地图解说明根据本发明技术的一实施例的存储器装置的简化框图。

图2是根据本发明的一些实施例使用基于偏移的故障阈值来触发故障程序步骤的流程图。

图3是根据本发明的一些实施例产生基于偏移的故障阈值的流程图。

图4是根据本发明的一些实施例并入故障报告错误范围的故障程序步骤的流程图。

图5是根据本发明的一些实施例的实例存储器系统的简化框图。

图6是根据本发明的一些实施例的实例计算机系统的简化框图。

具体实施方式

一些半导体存储器装置(例如DRAM)执行包含各种错误检查及校正操作的错误检查与清理(“ECS”)程序步骤。举例来说，DRAM的实施例使用错误校正码(ECC)来校正单位翻转错误。ECS程序步骤可记录在ECS程序步骤期间识别的错误(例如，经翻转位)的数目。当所记录错误数目高于故障阈值时，ECS程序步骤可报告存储器装置的故障状况。