[发明专利]一种参数检测电路及方法

说明书

一种参数检测电路及方法由不同的电路提供不同的两个基准电压信号，通过其中一个基准电压信号来实现对另一个原有的基准电压源的检测，以确定另一个原有的基准电压源是否存在故障，以提高参数检测电路的检测精度。

技术领域

本申请属于电子电路技术领域，尤其涉及一种参数检测电路及方法。

背景技术

目前，在电能计量领域，通常使用采样网络对被测量的电压、电流信号进行采样，然后输入模数转换器转换成数字信号，最终使用信号处理器对数字信号进行处理得到测量值。但是，当采样网络中元器件的参数由于故障发生变化时，就会产生采样误差，并最终产生测量误差。对于这种情形，测量系统需要能将其检测出来，并进行相应的处理。

通常使用检测信号产生电路来对采样网络进行检测，可以判断采样网络的参数是否发生变化，进而定位故障源。具体来说，就是通过在采样网络的节点中引入额外的基于基准电压源产生的检测信号，通过分析信号处理器对检测信号的测量结果，判定采样网络的参数是否发生变化，进而定位故障源。

在传统技术中，基准电压源同时给检测信号产生电路和模数转换器提供基准电压。为了保证系统的精度，通常要求基准电压响应快，噪声低。具体来说，需要将基准电压源连接至外部管脚，并在外部管脚上加电容。由于基准电压源连接至外部管脚，在芯片工作时更容易发生损伤，造成基准电压源的电压值发生变化。但是，当基准电压源的电压值发生变化时，检测信号产生电路产生的检测信号会同比发生变化，经过模数转换器转换为数字信号会反比发生变化，最终使得检测值保持不变，与参考值相同。

由此可见，传统测量系统无法检测出基准电压源发生变化的故障，基准电压源所提供的基准电压值发生变化并不能被识别出。

发明内容

本申请的目的在于提供一种具有基准检测功能的参数检测电路及方法，旨在解决传统的参数检测电路无法检测出基准电压源发生故障的问题。

一种参数检测电路，包括：

用于提供第一基准电压的第一基准电压源；

产生时钟基准信号的晶体振荡器；

锁相环，与所述晶体振荡器连接，根据所述时钟基准信号生成第二基准电压；

检测信号产生电路；

选择开关，与所述第一基准电压源、所述锁相环及所述检测信号产生电路连接，所述选择开关用于在所述第一基准电压源和所述锁相环之间择一与所述检测信号产生电路连通以向所述检测信号产生电路提供第一基准电压或第二基准电压；所述检测信号产生电路被配置为根据所述第一基准电压、第二基准电压分别产生第一检测信号和第二检测信号；

采样网络，用于与测量信号和所述检测信号产生电路连接，被配置为接入所述第一检测信号、所述第二检测信号，分别输出第一检测采样信号、第二检测采样信号；

模数转换器，与所述采样网络和所述第一基准电压源连接，用于在所述第一基准电压源提供第一基准电压下，将所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号转换为对应的数字信号；

信号处理器，与所述模数转换器连接，用于根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号确定所述第一基准电压源是否存在故障。

在其中一个实施例中，所述信号处理器具体用于根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号的标定值和检测值的变化以及转换为数字信号的所述第二检测采样信号的标定值和检测值的变化确定所述第一基准电压源是否存在故障。

在其中一个实施例中，所述信号处理器还被配置为根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号标定值和检测值的变化确定所述采样网络是否存在故障。