[发明专利]一种参数检测电路及方法

权利要求书

1.一种参数检测电路，其特征在于，包括：

用于提供第一基准电压的第一基准电压源；

用于产生时钟基准信号的晶体振荡器；

锁相环，与所述晶体振荡器连接，根据所述时钟基准信号生成第二基准电压；

检测信号产生电路；

选择开关，与所述第一基准电压源、所述锁相环及所述检测信号产生电路连接，所述选择开关用于在所述第一基准电压源和所述锁相环之间择一与所述检测信号产生电路连通以向所述检测信号产生电路提供第一基准电压或第二基准电压；所述检测信号产生电路被配置为根据所述第一基准电压、第二基准电压分别产生第一检测信号和第二检测信号；

采样网络，用于与测量信号和所述检测信号产生电路连接，被配置为接入所述第一检测信号、所述第二检测信号，分别输出第一检测采样信号、第二检测采样信号；

模数转换器，与所述采样网络和所述第一基准电压源连接，用于在所述第一基准电压源提供第一基准电压下，将所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号转换为对应的数字信号；以及

信号处理器，与所述模数转换器连接，用于根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号确定所述第一基准电压源是否异常。

2.如权利要求1所述的参数检测电路，其特征在于，所述信号处理器具体用于根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号的标定值和检测值的变化以及转换为数字信号的所述第二检测采样信号的标定值和检测值的变化确定所述第一基准电压源是否异常。

3.如权利要求1所述的参数检测电路，其特征在于，所述信号处理器还被配置为根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号标定值和检测值的变化确定所述采样网络是否异常。

4.如权利要求2所述的参数检测电路，其特征在于，所述采样网络接入测量信号还输出测量采样信号，所述模数转换器将所述测量采样信号转换为数字信号，所述信号处理器还被配置为根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号和/或所述第二检测采样信号，以及所述测量采样信号进行电量计量及其校准。

5.如权利要求4所述的参数检测电路，其特征在于，所述第一检测信号、所述第二检测信号的频率大于所述测量信号的频率，且为所述测量信号的非整数倍。

6.如权利要求1所述的参数检测电路，其特征在于，所述锁相环以及所述信号处理器为集成电路的片内电路，至少部分的所述第一基准电压源、所述晶体振荡器、所述检测信号产生电路和所述采样网络的器件为所述集成电路的片外电路。

7.如权利要求1至6任一项所述的参数检测电路，其特征在于，所述锁相环包括鉴相器、低通滤波器以及压控振荡器，所述鉴相器的第一输入端连接所述晶体振荡器的输出端，所述低通滤波器的输入端连接所述鉴相器的输出端，所述低通滤波器的输出端作为所述锁相环的输出端，所述压控振荡器的输入端连接所述低通滤波器的输出端，所述压控振荡器的输出端连接所述鉴相器的第二输入端。

8.如权利要求1至6任一项所述的参数检测电路，其特征在于，所述晶体振荡器包括石英晶体、反向放大器、反馈电阻、第一负载电容和第二负载电容，所述石英晶体、反向放大器及反馈电阻并联后的两端分别通过所述第一负载电容、所述第二负载电容接地，所述反向放大器的输出端作为所述晶体振荡器的输出端。

9.一种参数检测方法，其特征在于，包括：

将基于以第一基准电压源产生的第一基准电压生成第一检测信号并加载到采样网络上产生第一检测采样信号；

将基于以锁相环产生的第二基准电压生成第二检测信号并加载到采样网络上产生第二检测采样信号，所述锁相环根据晶体振荡器产生时钟基准信号生成所述第二基准电压；

基于第一基准电压，将所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号分别转换为数字信号；

根据转换为数字信号的所述第一检测采样信号、所述第二检测采样信号确定所述第一基准电压源是否异常。