[发明专利]一种具有防尘功能的集成电路测试仪器

权利要求书

1.一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁（1）、仪器主体（3）、第一弹簧（8）和第二弹簧（14），所述墙壁（1）的一侧固定有固定架（2），所述仪器主体（3）位于固定架（2）远离墙壁（1）的一侧，其中，

所述仪器主体（3）靠近固定架（2）的一侧四角固定有支脚（4），所述仪器主体（3）远离支脚（4）的一侧设置有防尘盖（5），所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短一边两侧开设有挡板槽（6），所述仪器主体（3）靠近挡板槽（6）的顶部开设有连接杆槽（7），所述连接杆槽（7）与挡板槽（6）相连通；

所述第一弹簧（8）固定在挡板槽（6）的底部，所述第一弹簧（8）的顶部固定有挡板（9），所述挡板（9）远离第一弹簧（8）的一侧固定有连接杆（10），所述连接杆（10）远离挡板（9）的一侧转动连接有转动杆（11），所述转动杆（11）远离连接杆（10）的一端与防尘盖（5）固定连接，所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短另一边两侧开设有弹簧槽（12）；

所述防尘盖（5）靠近弹簧槽（12）的一侧固定有顶杆（13），所述第二弹簧（14）固定在弹簧槽（12）的内部，所述仪器主体（3）远离挡板槽（6）的一侧中部转动连接有连接架（15），所述防尘盖（5）远离转动杆（11）的一侧中部固定有固定杆（16），所述连接架（15）靠近固定杆（16）的一侧开设有固定槽（17）；

所述固定架（2）靠近仪器主体（3）的四角开设有开口槽（18），所述固定架（2）靠近开口槽（18）的一侧开设有支脚槽（19），所述固定架（2）靠近仪器主体（3）一侧中部固定有卡块（20），所述仪器主体（3）靠近卡块（20）的一侧开设有卡槽（21）。

2.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述仪器主体（3）包括控制面板（301）和检测连接头(302），所述仪器主体（3）远离固定架（2）的一侧设置有控制面板（301），所述仪器主体（3）靠近控制面板（301）的一侧设置有检测连接头（302）。

3.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述支脚（4）包括第一支杆（401）、和第二支杆（402）、螺杆槽（403）和螺杆（404），所述支脚（4）通过第一支杆（401）与仪器主体（3）固定连接，所述第一支杆（401）远离仪器主体（3）的一侧连接有第二支杆（402），所述第一支杆（401）靠近第二支杆（402）的一侧开设有螺杆槽（403），所述第二支杆（402）靠近螺杆槽（403）的一侧固定有螺杆（404）。

4.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述挡板（9）为圆柱体，且挡板（9）通过第一弹簧（8）与仪器主体（3）构成弹性连接，并且挡板（9）的外径大于连接杆槽（7）的内径。

5.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述连接杆（10）为圆柱体，且连接杆（10）的外径与连接杆槽（7）的内径相吻合，并且连接杆（10）的长度大于连接杆槽（7）的高度。

6.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述连接架（15）转动处到固定槽（17）的垂直距离与连接架（15）转动处到固定杆（16）的垂直距离相等，并且固定杆（16）为圆柱体，而且固定杆（16）的外径与固定槽（17）的内径相吻合。

7.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述开口槽（18）与支脚槽（19）相连通，且开口槽（18）的开口尺寸大于支脚（4）的外部尺寸，并且支脚（4）与支脚槽（19）为T形，而且支脚（4）的外部尺寸与支脚槽（19）的内部尺寸相吻合。

8.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述卡块（20）的截面为弧形弹片，且卡块（20）的外部尺寸与卡槽（21）的内部尺寸相吻合。