[发明专利]基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括机体、沿待检测瓷环输送方向依次安装于所述机体的一级传动带、二级传动带和三级传动带，所述二级传动带的前端位于所述一级传动带的末端的下方，所述三级传动带的前端位于所述二级传动带的末端的下方，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统还包括位于所述一级传动带的末端一侧和所述二级传动带的前端上方的引导件，以能够引导从所述一级传动带输送过来的待检测瓷环在不翻面的情况下抵达所述二级传动带，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统还包括位于所述二级传动带的末端一侧和所述三级传动带的前端上方的辅助翻面件，以能够引导从所述二级传动带输送过来的待检测瓷环在翻面后抵达所述三级传动带，所述辅助翻面件包括连成夹角的第一引导板和第二引导板，所述第一引导板的上端朝向所述二级传动带的末端，所述第一引导板的下端沿所述待检测瓷环输送方向向下倾斜，所述第二引导板的上端沿所述待检测瓷环输送方向向上倾斜，所述第二引导板的下端沿相反于所述待检测瓷环输送方向的方向向下倾斜。

2.根据权利要求1所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述一级传动带的设定工作速度为第一速度,所述二级传动带的设定工作速度为第二速度，所述第二速度为2cm/s—6cm/s，所述二级传动带对应的传动轮的直径为第一直径、所述待检测瓷环的半径为第一半径、所述二级传动带的上表面与所述三级传动带的上表面之间的高度差为第一高度差，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统满足如下条件：第一直径在1.9倍第一半径和2.1倍第一半径之间，第一高度差在3倍第一半径至5倍第一半径之间。

3.根据权利要求1所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述一级传动带的设定工作速度为第一速度、所述二级传动带的设定工作速度为第二速度，所述第二速度大于所述第一速度。

4.根据权利要求1所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述引导件为安装于所述机体的引导斜板，所述引导斜板的上端接触于所述一级传动带的末端，所述引导斜板的下端沿所述待检测瓷环输送方向向下倾斜地延伸至所述二级传动带。

5.根据权利要求1所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括位于所述二级传动带上方的第一拍照设备、第一光电开关和位于所述三级传动带上方的第二拍照设备、第二光电开关，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统还包括位于所述二级传动带的末端一侧的第一剔除装置以及位于所述三级传动带的末端一侧的第二剔除装置。

6.根据权利要求5所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括位于所述二级传动带两侧的第一光源装置，所述第一光源装置开启时所述第一光源装置与所述待检测磁环的对应侧边缘形成的光线与二级传动带的夹角大于或等于35°，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括位于所述三级传动带两侧的第二光源装置，所述第二光源装置开启时所述第二光源装置与所述待检测磁环的对应侧边缘形成的光线与所述三级传动带的夹角小于大于或等于35°。

7.根据权利要求6所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括上位机、PLC、图像采集装置、电机驱动器、剔除信号输出器和光源控制器，所述上位机分别与所述图像采集装置和PLC信号连接，所述PLC分别与所述电机驱动器、剔除信号输出器和光源控制器信号连接，所述电机驱动器分别与所述一级传动带、二级传动带和三级传动带的驱动电机信号连接，所述剔除信号输出器分别与所述第一剔除装置和第二剔除装置信号连接，所述光源控制器分别与所述第一光源装置和第二光源装置信号连接，所述图像采集装置分别与所述第一拍照设备和第二拍照设备信号连接。

8.根据权利要求1至6中任意一项所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统，其特征在于，所述基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统包括沿待检测瓷环输送方向延伸设置在一级传动带和二级传动带上方的多通道隔板。

9.一种根据权利要求1至8中任意一项所述的基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统的检测方法，其特征在于，包括步骤：

a、瓷环送入料槽，放入一级传动带，瓷环在第一级传动带运行，通过引导件进入二级传动带；

b、瓷环在二级传送带加速前进，由二级传送带传输至第一拍照设备的检测位置，对瓷环当前朝上的一面进行表面纹理进行检测，在识别到不合格产品时，通过第一光电开关触发取图，对有缺陷的瓷环进行标记，上位机追踪有缺陷的瓷环的目标位置，并将目标位置发信号至剔除信号输出器，待不合格品到达剔除位置时，剔除信号输出器控制第一剔除装置剔除不合格品；

c、经过步骤b后的合格的瓷环通过辅助翻面件继续输送至三级传动带，瓷环进入第二拍照设备的检测位置，在识别到不合格产品时，通过第二光电开关触发取图，对有缺陷的瓷环进行标记，上位机追踪有缺陷的瓷环的目标位置，并将目标位置发信号至剔除信号输出器，待不合格品到达剔除位置时，剔除信号输出器控制第二剔除装置剔除不合格品。