[发明专利]荧光渗透检查系统和方法

说明书

一种检查系统，包括一个或多个处理器，该一个或多个处理器以紫外线(UV)设定获得其上具有荧光染料的工件的第一图像，并且以可见光设定获得工件的第二图像。通过一个或多个成像设备在相对于工件的相同位置产生第一图像和第二图像。一个或多个处理器基于一个或多个像素的光特性来识别第一图像的候选区，并且确定与第一图像的候选区处于类似地点的第二图像的对应候选区。一个或多个处理器分析两个候选区，以检测在工件的表面上的潜在缺陷以及潜在缺陷相对于工件的表面的地点。

技术领域

本文所述的主题涉及使用荧光来检测缺陷的工件检查。

背景技术

荧光渗透指示(FPI)检查利用施加到工件的无孔表面上的荧光染料。在从表面上去除大量染料之后，在暗室中用紫外线辐射照射表面会导致工件的间断内的残留染料量发射出与暗背景形成对比的荧光辉光，表明存在间断。每个间断可能是工件的表面中的缺陷，例如裂缝、缺口、显微收缩或散裂(例如剥落)。当前的FPI检查方案是纯手动的。例如，检查员坐在暗室或帐篷中，并且操纵紫外线光源和/或工件，以用紫外线光来照射工件。在最初检测到工件上的潜在缺陷时，检查员可以刷过或擦拭工件，以去除可能表示误报的任何灰尘和/或碎屑或其他表面污染。然后，检查员第二次在紫外线光下观察工件，以确定工件表面上是否存在任何缺陷。如果检查员确定工件具有一个或多个缺陷，则检查员可以指定工件用于修理或可以丢弃(例如，报废)工件。

当前的FPI检查的手动处理是主观并且不一致的。例如，该处理受到进行检查的特定检查员的固有人为偏见和/或错误的影响。尽管在确定是否因为满意而通过工件、将工件送交修理、或丢弃工件时会采用检查员要遵循的指南或规则，但是两名不同的检查员可能会根据偏见和/或错误而不同地应用指南。可能的是，一个检查员会决定丢弃(例如，报废或处置)工件，而另一个检查员在类似情况下会决定通过或修理该工件。

除了对特定工件进行分类以用于立即使用、修理或处置之外，在FPI检查的当前处理期间可能仅收集并记录有有限的信息量，如果有的话。在不收集和记录有关检测到的缺陷的足够信息的情况下，不能研究和分析此类信息以用于改进FPI检查的质量控制和一致性。

此外，当前的用于FPI检查的手动处理效率低下，并且对于检查员来说也不舒服。例如，对于检查员而言，可能不舒服和/或不期望的是，在暗室或帐篷中花费较长的时间操纵紫外线光源和/或覆盖有染料的工件来检查工件。

发明内容

在一个或多个实施例中，提供了一种检查系统，该检查系统包括一个或多个处理器，一个或多个处理器被构造成以紫外线(UV)光设定获得其上具有荧光染料的工件的第一图像，并且以可见光设定获得工件的第二图像。工件在UV光设定中被紫外线光照射，以使得荧光染料发射光，并且工件在可见光设定中被可见光照射，以使得工件反射光。通过一个或多个成像装置在相对于工件的相同位置产生第一图像和第二图像。一个或多个处理器被构造成基于候选区内的一个或多个像素的光特性来识别第一图像的候选区，并且确定与第一图像的候选区处于类似地点的第二图像的对应候选区。一个或多个处理器被构造成分析第一图像的候选区和第二图像的对应候选区两者，以检测工件的表面上的潜在缺陷以及潜在缺陷相对于工件的表面的地点。

在一个或多个实施例中，提供了一种方法，该方法包括以紫外线(UV)光设定获得在其上具有荧光染料的工件的第一图像，在UV光设定中，用紫外线光照射工件，以使得荧光染料发射光。该方法包括以可见光设定获得工件的第二图像，在可见光设定中，通过可见光照射工件，以使得工件反射光。通过一个或多个成像装置在相对于工件的相同位置产生第一图像和第二图像。该方法还包括基于候选区内的一个或多个像素的光特性来识别第一图像的候选区，并且确定与第一图像的候选区处于类似地点的第二图像的对应候选区。该方法还包括经由一个或多个处理器，分析第一图像的候选区和第二图像的对应候选区两者，以检测工件的表面上的潜在缺陷以及潜在缺陷相对于工件的表面的地点。