[发明专利]封装组件、电子设备及封装方法在审
申请号: | 201911167351.0 | 申请日: | 2019-11-25 |
公开(公告)号: | CN110854111A | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 邱煌山 | 申请(专利权)人: | 维沃移动通信有限公司 |
主分类号: | H01L25/18 | 分类号: | H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 杨烨;施敬勃 |
地址: | 523857 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装 组件 电子设备 方法 | ||
1.一种封装组件,其特征在于,包括基板(100)、元器件(200)、封装层(300)和绝缘层(400),所述元器件(200)设有焊脚(500),所述元器件(200)通过所述焊脚(500)与所述基板(100)相连,所述封装层(300)包裹所述元器件(200),所述焊脚(500)的周围设有所述绝缘层(400),且所述绝缘层(400)位于所述基板(100)和所述封装层(300)之间。
2.根据权利要求1所述的封装组件,其特征在于,所述绝缘层(400)设置为多个,多个所述绝缘层(400)依次叠置,各所述绝缘层(400)中,至少两个所述绝缘层(400)的热膨胀系数不同。
3.根据权利要求2所述的封装组件,其特征在于,每个所述绝缘层(400)的热膨胀系数均介于所述封装层(300)的热膨胀系数和所述基板(100)的热膨胀系数之间。
4.根据权利要求3所述的封装组件,其特征在于,所述封装层(300)的热膨胀系数大于所述基板(100)的热膨胀系数,且在所述封装层(300)指向所述基板(100)的方向上,各所述绝缘层(400)的热膨胀系数逐渐减小;或者,
所述封装层(300)的热膨胀系数小于所述基板(100)的热膨胀系数,且在所述封装层(300)指向所述基板(100)的方向上,各所述绝缘层(400)的热膨胀系数逐渐增大。
5.根据权利要求1所述的封装组件,其特征在于,所述元器件(200)的数量为至少一个,每个所述元器件(200)均设有至少一个所述焊脚(500),每个所述元器件(200)的每个所述焊脚(500)周围均设有所述绝缘层(400)。
6.一种电子设备,其特征在于,包括权利要求1-5中任一项所述的封装组件。
7.一种封装方法,应用于权利要求1-5中任一项所述的封装组件,其特征在于,所述方法包括:
在元器件(200)的焊脚(500)周围制备绝缘层(400);
将所述元器件(200)、所述焊脚(500)和所述绝缘层(400)所形成的结构贴装于基板(100)上,所述绝缘层(400)位于所述基板(100)朝向所述元器件(200)的一侧。
8.根据权利要求7所述的封装方法,其特征在于,所述在元器件(200)的焊脚(500)周围制备绝缘层(400)之前还包括:
在元器件(200)的周围制备封装层(300);
在所述元器件(200)的表面制备焊脚(500);
所述将所述元器件(200)、所述焊脚(500)和所述绝缘层(400)所形成的结构贴装于基板(100)上,具体为:
将所述封装层(300)、所述元器件(200)、所述焊脚(500)和所述绝缘层(400)所形成的结构贴装于所述基板(100)上,所述绝缘层(400)位于所述基板(100)和所述封装层(300)之间。
9.根据权利要求8所述的封装方法,其特征在于,所述在元器件(200)的周围制备封装层(300)具体包括:
在载板(600)上制备粘接膜(700);
在所述粘接膜(700)上制备元器件(200);
在所述粘接膜(700)上制备封装层(300),所述封装层(300)包裹所述元器件(200);
去除所述载板(600)和所述粘接膜(700)。
10.根据权利要求8所述的封装方法,其特征在于,所述在所述元器件(200)的表面制备焊脚(500)具体为:采用印刷工艺在所述元器件(200)的表面制备焊脚(500);
所述在元器件(200)的焊脚(500)周围制备绝缘层(400)具体为:采用印刷工艺在元器件(200)的焊脚(500)周围制备绝缘层(400)。
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