[发明专利]显示面板的修补方法及修补装置在审

专利信息
申请号: 201911162437.4 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN111103121A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 邢福勤 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 徐世俊
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 修补 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种显示面板的修补方法,其特征在于,包括:

提供一待检测显示面板;

通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测,若所述待检测显示面板存在缺陷,则所述量测机台生成相应的第一检测数据,其中,所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息;

对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合;

修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

2.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法,其特征在于,所述对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合的步骤包括:

获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息;

基于所述缺陷类型将多个所述第一检测数据进行分类,以生成多个第一数据分类集合,每一所述第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个所述第一检测数据;

基于所述第一指令信息,将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合。

3.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法,其特征在于,所述对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合的步骤包括:

获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息;

基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类,以生成多个第二数据分类集合,每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据;

基于所述第二指令信息,将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合。

4.根据权利要求2或3所述的显示面板的修补方法,其特征在于,所述对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合的步骤之前,还包括对多个所述第一检测数据进行冗余处理,所述冗余处理的步骤包括:

对多个所述第一检测数据进行比对;

若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致,则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

5.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法,其特征在于,所述对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合的步骤之前,还包括对所述第一检测数据进行转换处理,所述转换处理的步骤包括:

获取待传送量测机台的规格信息;

基于所述规格信息对所述第一检测数据进行转换,以得到第二检测数据;

将所述第二检测数据传至所述待传送量测机台。

6.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法,其特征在于,所述对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合的步骤之前,还包括:

接收一第三指令信息,所述第三指令信息用于指定多个所述量测机台中的一量测机台为处理机台,基于所述第三指令信息将多个所述第一检测数据传送至所述处理机台。

7.一种显示面板的修补装置,其特征在于,所述修补装置包括:

检测模块,所述检测模块用于对待检测显示面板进行检测,以获得所述待检测显示面板相应的第一检测数据;

数据处理模块,所述数据处理模块用于对多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合;

修补模块,所述修补模块用于基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

8.根据权利要求7所述的修补装置,其特征在于,所述数据处理模块包括第一获取单元、第一分类单元和第一合并单元;

所述第一获取单元用于获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息;

所述第一分类单元用于基于所述缺陷类型对多个所述第一检测数据进行分类处理,以生成多个第一数据分类集合;

所述第一合并单元用于基于所述第一指令信息,将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理,以生成第一检测数据集合。

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