[发明专利]显示面板的修补方法及修补装置

说明书

本申请实施例公开了一种显示面板的修补方法及修补装置，该修补方法包括：提供一待检测显示面板；通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息；对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。该方案使修补机台可以同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

技术领域

本申请涉及显示制造技术领域，具体涉及一种显示面板的修补方法及修补装置。

背景技术

显示面板在制作过程中，需要利用量测机台对包括显示面板的半成品及成品在内的待量测产品进行量测以获取显示面板的检测信息，然后根据检测信息对显示面板进行修复。但是，在现有技术中，修补机台无法同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，造成漏放率上升，面板良率下降。

发明内容

本申请提供一种显示面板的修补方法及修补装置，以解决修补机台无法同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，造成漏放率上升，面板良率下降的技术问题。

本申请提供一种显示面板的修补方法，其特征在于，包括：

提供一待检测显示面板；

通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息；

对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；

修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息；

基于所述缺陷类型将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第一数据分类集合，每一所述第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个所述第一检测数据；

基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行分类处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息；

基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对多个所述第一检测数据进行冗余处理，所述冗余处理的步骤包括：

对多个所述第一检测数据进行比对；

若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对所述第一检测数据进行转换处理，所述转换处理的步骤包括：

获取待传送量测机台的规格信息；