[发明专利]一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法

说明书

本发明公开了一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法。本发明的检测系统，其包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统；所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；所述的计算控制系统，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元；所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。本发明检测系统构造简单，对检测环境要求低，对检测人员要求低，便于广泛普及应用。

技术领域

本发明属于紫外成像仪的检测领域，具体地说是一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法。

背景技术

近几年，紫外成像仪越来越多地应用到电力设备巡检工作中，电力设备巡检工作多在白天进行，需要设备对除电晕信号波段以外的光信号（如太阳光），具有良好的抑制能力，即具备良好的带外抑制能力。

带外抑制能力，是评价紫外成像仪性能的一项重要指标，带外抑制能力越强，设备对太阳光的抗干扰能力就越强，对电晕放电的检测效果就越好。

目前，各个厂家的紫外成像仪，其标称的性能参数和监测指标存在一定的差异，无法对其带外抑制能力进行统一的评估。

据调研，一般对于带外抑制能力的检测多集中于对紫外滤波组件性能的检测，但国内不少紫外成像仪为进口设备，设备价格昂贵、加工精密，紫外滤波组件的检测无法开展。

标准《DLT 1779-2017 高压电气设备电晕放电检测用紫外成像仪技术条件》，检测方式为选取室外无电弧焊和明火的空旷场地，将紫外成像仪正对晴日太阳，增益设置为最大值，积分时设置为0，手动对焦至无穷远，紫外通道放大倍率为1X，录制紫外通道视频图像3s~5s。观察视频，统计平均每帧光斑点数作为带外抑制参数。该标准利用太阳作为光源，太阳光受地区、时间、天气等影响因素较大，如检测期间无良好天气或周围电焊等干扰过多，则不利于紫外成像仪带外抑制能力检测工作的开展。

CN200610154764提供一种光学低通滤波器性能测试的装置，该装置包括光源，在光源的光路上，依次设置带小孔的挡板、光学成像系统、转像系统、光学成像系统和图像传感器等。该技术虽然是检验光学滤波性能的一种装置，但从系统及原理看，只能适用于光可以透过的光学零件或系统，不适用紫外成像仪整机滤波性能即带外抑制能力的检测。

CN200710194325基于线性渐变滤波片的纺织品光学性能测试系统，它由光源、平行光管、分光镜、线性渐变滤波片、光电二极管列阵探测器、信号处理电路和计算机组成。该技术类似于光学滤波性能检测系统，光源包含紫外、红外和可见波段，但整个系统利用两个平行光管，三路光路比较，系统要求高，同样需要被测系具有透光性，不适于紫外成像仪的带外抑制性能的检测。

此外还有涉及使用滤光片组合方式进行光学滤光性能检测的方案，但对于检测对象只能限于透光的光学组件，且检测系统复杂、设计加工精度高、测试对环境、对人员要求高，且无法开展紫外成像仪整机带外抑制性能的检测。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服上述现有技术存在的缺陷，提供一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法，其检测系统构造简单，对检测环境要求低，对环境人员要求低，便于广泛普及和应用。

为此，本发明采用的技术方案如下：一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统；

所述的光源提供280-1100nm波段内连续波长的光信号，光源的光谱包括紫外线、可见光和红外线；

所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；