[发明专利]一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法

权利要求书

1.一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统；

所述的光源提供280-1100nm波段内连续波长的光信号，光源的光谱包括紫外线、可见光和红外线；

所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；

所述的光源经积分球后分两路输出，一路为参考光，另一路为测试光；参考光与测试光的发光强度相同，参考光进入光功率计，测试光用于进入待测设备；

所述的计算控制系统，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理、显示单元，校验处理单元；

所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力；

所述的校验处理单元内置评价标准，包括太阳光谱曲线的光子数评价标准、特定光源的光子数评价标准和自定义评价标准。

2.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述太阳光谱曲线的光子数评价标准，一方面将光源信号与内置太阳光谱曲线进行比对，保障光源发光近似于太阳光谱；另一方面，当光源信号与内置太阳光谱曲线一致时，设定带外抑制评价光子数指标N₀，当设备检测到的光子数小于等于N₀时，评判设备带外抑制能力满足要求。

3.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述特定光源的光子数评价标准，对于特定光源设置一个光子数评价指标N_t，首先根据功率计参数对光源信号进行评估，查看光源是否满足要求；当光源满足要求后，对比光子数评价指标N_t与设备检测到的光子数，评判设备带外抑制能力是否满足要求。

4.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述的光源包括一个太阳模拟器和多个紫外波段LED光源。

5.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述的光源配光源控制单元，用于控制光源的强度。

6.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述的光功率计，其检测波段大于光源发光波段；所述的光功率计用于测量参考光光功率，保障每次检测光源的稳定性。

7.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统，其特征在于，所述光功率计连接计算控制系统的功率计数据处理、采集、显示单元，计算控制系统绘制光源光谱曲线。

8.利用权利要求1-7任一项所述检测系统的检测方法，其特征在于，包括步骤：

1）开启待测设备；

2）开启检测系统，选择测试标准，待光源稳定后，将光功率计置于积分球一个出光口处，通过光功率计查看光源稳定性和光源曲线，保证每次检测时光源保持一致；

3）将待测设备置于积分球另一个出光口处；观察待测设备对光源信号的响应情况及光子数数值；

4）校验处理单元根据光功率计数据和设备的光子数数值，选择光子数评价标准，评估设备带外抑制能力。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，待测设备先在暗室环境下，进行暗背景的光子数统计，再与通过检测系统后的所得的光子数相减。