[发明专利]浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法

权利要求书

1.浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

S1：根据所需填图的比例尺，按行业规范进行布线测量，选取合理的路线间距；

S2：在各路线上按行业规范分别选取点开挖探坑（1），探坑（1）之间的间距依据实测剖面的比例尺确定；

S3：通过探坑（1）揭露出的基岩残积层（7）、基岩层（8）中的地质现象按照行业规范进行地质描述、记录，然后根据地质描述、记录对地质体归类划分，完成上述工作后回填探坑（1）；

S4：对多条路线上的多个探坑（1）完成数据采集后，所采集的地质点按坐标标记在地形图上，根据地质点中的描述，对地质体进行界线划分；

S5：对界线进行修正，沿路线方向选取两不同地质体发生变化的两探坑（1），在两探坑（1）间布设点探槽（9），通过点探槽（9）揭露出的基岩残积层（7）、基岩层（8）中的地质现象按照行业规范进行地质描述、记录，然后根据地质描述、记录对地质体归类划分，完成上述工作后回填点探槽（9），通过点探槽（9）控制地质体的界线，并按行业规范完成地质体的产状测量及地质描述，并在图上做修正界线。

2.根据权利要求1所述的浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，其特征在于：所述探坑（1）包括探坑口（2）、探坑壁（3）和探坑底（4），所述探坑（1）从浅到深依次揭露腐殖土层（5）、基岩全风化层（6）、基岩残积层（7）和基岩层（8）。

3.根据权利要求1所述的浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，其特征在于：所述探坑（1）深度根据揭露的实际情况最深开挖1.5m，所述探坑（1）规格设置为地表长1m×宽1m，往深部长×宽尺寸呈倒梯形体收缩。

4.根据权利要求1所述的浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，其特征在于：所述S1中所需填图的比例尺包括1：10000、1：5000、1：2000和1：1000，在浅覆盖层的区域开展1：10000地质填图，填图线距设置为100m，探坑（1）点距设置为50-100m，探坑（1）揭露的地质点密度不少于80点/km²，在浅覆盖层的区域开展1：5000地质填图，填图线距设置为50m，探坑（1）点距设置为30-60m，探坑（1）揭露的地质点密度不少于150点/km²，在浅覆盖层的区域开展1：2000地质填图，填图线距设置为20-40m，探坑（1）点距设置为20-40m，探坑（1）揭露的地质点密度不少于300点/km²，在浅覆盖层的区域开展1：1000地质填图，填图线距设置为10m，探坑（1）点距设置为10m，探坑（1）揭露的地质点密度不少于600点/km²。

5.根据权利要求1所述的浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，其特征在于：所述S3中若同时需完成1：10000土壤地球化学采样，可在探坑壁（3）上选择符合《土壤地球化学测量规程》采集样品，即采集基岩残积层（7）中土壤，若同时需完成1：5000土壤地球化学采样，可在探坑壁（3）上选择符合《土壤地球化学测量规程》采集样品，即采集基岩残积层（7）中土壤。