[发明专利]变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质

权利要求书

1.一种变压器绕组变形分析方法，其特征在于，包括：

获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算所述变形绕组的相对电抗高度；

基于所述变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算所述变形绕组变形后的等效变形量；

基于所述等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；

基于所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积、相对洛氏系数和相对电抗高度计算所述变形绕组变形后的相对短路电抗；

基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度；

所述计算所述变形绕组的相对电抗高度具体包括：

获取所述变形绕组和特定绕组的电抗高度；

基于所述变形绕组和特定绕组的电抗高度，计算所述变形绕组相对于所述特定绕组的相对电抗高度，其中，所述特定绕组的电压高于所述变形绕组的电压。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积具体包括：

基于所述变形绕组变形后的等效变形量、所述特定绕组的平均半径和辐向宽度、所述变形绕组变形前的平均半径和辐向宽度、所述特定绕组与变形绕组间的主绝缘宽度，以及所述特定绕组与变形绕组间的主绝缘半径，计算所述变形绕组变形后相对于特定绕组的相对等效漏磁面积。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对洛氏系数具体包括：

基于所述变形绕组变形后的等效变形量、所述特定绕组的辐向宽度、所述变形绕组变形前的平均半径和辐向宽度，以及所述特定绕组与所述变形绕组间的主绝缘宽度，计算所述变形绕组变形后相对于所述特定绕组的相对洛氏系数。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度具体包括：

基于所述变形绕组变形后的等效变形量，以及所述变形绕组的最大等效变形量，计算所述变形绕组的第一变形程度；

基于所述变形绕组变形前和变形后相对于所述特定绕组的相对短路电抗，计算所述变形绕组变形前后相对于所述特定绕组的相对短路电抗变化率；

基于所述变形绕组变形后相对于所述特定绕组的相对短路电抗、第一变形程度，以及相对短路电抗变化率，得到所述变形绕组的第二变形程度，将所述第二变形程度作为所述变形绕组的变形程度。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述特定绕组与所述变形绕组间的主绝缘宽度，以及所述特定绕组与所述变形绕组间总的纸筒厚度，计算所述变形绕组的最大等效变形量。

6.一种变压器绕组变形分析装置，其特征在于，包括：

第一计算单元，用于获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算所述变形绕组的相对电抗高度；

第二计算单元，用于基于所述变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算所述变形绕组变形后的等效变形量；

第三计算单元，用于基于所述等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；

第四计算单元，用于基于所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积，相对洛氏系数和相对电抗高度计算所述变形绕组变形后的相对短路电抗；

第五计算单元，用于基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度；

所述计算所述变形绕组的相对电抗高度具体包括：

获取所述变形绕组和特定绕组的电抗高度；

基于所述变形绕组和特定绕组的电抗高度，计算所述变形绕组相对于所述特定绕组的相对电抗高度，其中，所述特定绕组的电压高于所述变形绕组。

7.一种计算机装置，其特征在于，所述计算机装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1-5中任意一项所述的方法的步骤。

8.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任意一项所述的方法的步骤。