[发明专利]SSD处于空闲状态下的行为测试方法、装置、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 201911141000.2 | 申请日: | 2019-11-20 |
公开(公告)号: | CN110993014B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 罗发治 | 申请(专利权)人: | 深圳忆联信息系统有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 巫苑明 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ssd 处于 空闲 状态 行为 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.SSD处于空闲状态下的行为测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
对SSD进行随机写操作;
判断写操作是否出现错误;
若未出现错误,则按每0.1秒递增进入非工作状态和释放空间命令循环,直至递增至2秒;
判断进入非工作状态或释放空间命令是否出现错误;
若未出现错误,则返回步骤“对SSD进行随机写操作”;
所述“若未出现错误,则按每0.1秒递增进入非工作状态和释放空间命令循环,直至递增至2秒”步骤中,每0.1秒递增进入非工作状态和释放空间循环,即等待0.1秒,然后发送一条释放空间命令唤醒SSD退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;等待0.2秒,然后发送一条释放空间命令唤醒SSD退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;等待0.3秒,然后发送一条释放空间命令唤醒其退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;按上述循环,直至等待时间递增至2秒;所述一个扇区为512个字节。
2.根据权利要求1所述的SSD处于空闲状态下的行为测试方法,其特征在于,所述写操作包括写数据模式,起始逻辑区块位址,及写数据的范围。
3.SSD处于空闲状态下的行为测试装置,其特征在于,包括:写单元,第一判断单元,进入单元,及第二判断单元;
所述写单元,用于对SSD进行随机写操作;
所述第一判断单元,用于判断写操作是否出现错误;
所述进入单元,用于按每0.1秒递增进入非工作状态和释放空间命令循环,直至递增至2秒;
所述第二判断单元,用于判断进入非工作状态或释放空间命令是否出现错误;
所述进入单元中,每0.1秒递增进入非工作状态和释放空间循环,即等待0.1秒,然后发送一条释放空间命令唤醒SSD退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;等待0.2秒,然后发送一条释放空间命令唤醒SSD退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;等待0.3秒,然后发送一条释放空间命令唤醒其退出非工作状态,且每次仅释放空间一个扇区;按上述循环,直至等待时间递增至2秒;所述一个扇区为512个字节。
4.根据权利要求3所述的SSD处于空闲状态下的行为测试装置,其特征在于,所述写操作包括写数据模式,起始逻辑区块位址,及写数据的范围。
5.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-2中任一项所述的SSD处于空闲状态下的行为测试方法。
6.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-2中任一项所述的SSD处于空闲状态下的行为测试方法。
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