[发明专利]缺陷检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911137321.5 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN110779928B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 汪科道 申请(专利权)人: 汪科道
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 苏州彰尚知识产权代理事务所(普通合伙) 32336 代理人: 潘剑
地址: 201100 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种缺陷检测装置,其特征在于,所述装置包括运动部件、采像部件以及处理部件,所述处理部件与所述运动部件、所述采像部件连接,所述运动部件用于对检测对象进行抓取和/或摆放,和/或对所述采像部件进行运动,所述采像部件用于对所述检测对象进行采像,所述处理部件包括:

路径规划模块:用于根据所述检测对象的所有可采像位置及预设的第一抽样比例,确定所述检测对象的多个第一采像位置;

根据所述采像部件采集的每个第一采像位置的第一检测图像,确定所述每个第一采像位置的第一缺陷概率;

根据所述第一缺陷概率及所述所有可采像位置除第一采像位置之外的位置的预设缺陷概率,建立概率矩阵;

根据预设的子矩阵尺寸,将所述概率矩阵拆分成多个子矩阵,确定每个子矩阵对应的局部区域的第二缺陷概率;

判定模块:用于将所有第二缺陷概率中的最大值确定为所述检测对象的第三缺陷概率,当所述第三缺陷概率大于或等于缺陷概率阈值时,检测对象判定为有缺陷,反之则判定为无缺陷。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述路径规划模块,还用于:

判断每个第二缺陷概率是否满足置信条件,其中,所述置信条件为所述第二缺陷概率小于或等于预设的第一置信阈值,或者,所述第二缺陷概率大于或等于预设的第二置信阈值,所述第一置信阈值小于所述第二置信阈值;

当每个第二缺陷概率均满足所述置信条件时,直接进入判定模块进行缺陷判定;

当存在不满足所述置信条件的第二缺陷概率时,

在所述不满足所述置信条件的第二缺陷概率所对应的局部区域中,根据预设的第二抽样比例确定第二采像位置,

根据所述采像部件采集的每个第二采像位置的第二检测图像,确定所述每个第二采像位置的第四缺陷概率;

用所述第四缺陷概率替换所述局部区域对应的子矩阵中相应的预设缺陷概率,重新确定所述局部区域的第二缺陷概率;

重复判断每个第二缺陷概率是否满足置信条件的步骤,直到每个第二缺陷概率均满足所述置信条件。

3.根据权利要求1-2任一项所述的装置,其特征在于,通过卷积网络确定所述第二缺陷概率,包括:

根据预设的子矩阵尺寸,确定所述卷积网络的卷积核及步长;

根据所述卷积核及步长,通过所述卷积网络对所述概率矩阵进行卷积操作,得到所述检测对象的每个局部区域的第二缺陷概率。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述子矩阵尺寸是根据平均能观测到缺陷的最大连续采像间隔及预设的采像精度确定的,所述卷积网络的参数是根据概率分布确定的。

5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第二采像位置不包括所述第一采像位置。

6.根据权利要求1-2任一项所述的装置,其特征在于,所述路径规划模块,还用于:

根据预设的采像精度及所述检测对象的几何形状,确定所述检测对象的所有可采像位置;

根据预设的角度精度,确定每个可采像位置的采像角度。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述路径规划模块,还用于:

根据每个第一采像位置的采像角度,获得每个第一采像位置至少一张第一检测图像,并根据所述至少一张第一检测图像,确定每个第一采像位置的第一缺陷概率,和/或

根据每个第二采像位置的采像角度,获得每个第二采像位置至少一张第二检测图像,并根据所述至少一张第二检测图像,确定每个第二采像位置的第四缺陷概率。

8.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,通过判定网络确定所述第一缺陷概率和/或所述第四缺陷概率,包括:

将第一检测图像和/或第二检测图像输入所述判定网络进行处理,得到第一缺陷概率和/或第四缺陷概率。

9.根据权利要求1-2任一项所述的装置,其特征在于,所述运动部件包括机器人或机械臂,所述采像部件包括相机、光源。

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