[发明专利]阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板

说明书

本发明公开了一种阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板。阵列基板线路检测结构包括：多个测试单元，每个测试单元包括m个测试线组，每个测试线组包括n条测试线，其中m为大于等于2的整数，n为大于等于2的整数，每个测试单元的各测试线依次排列，按照各测试线的排列顺序，每间隔m‑1条的测试线属于同一个测试线组，测试线用于与阵列基板的信号线电连接；测试焊盘，对应每个测试线组设置有一个测试焊盘，每个测试线组的测试线电连接至同一个测试焊盘，测试焊盘用于通过对应的测试线组的各测试线向对应的信号线输入测试信号以及接收对应的信号线的反馈信号。通过本发明公开的阵列基板线路检测结构能够对信号线短路进行检测。

技术领域

本发明属于显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板。

背景技术

显示面板的制备过程中，通过阵列测试(Array Test)可以在阵列(Array)阶段提前发现不良，进而对不良进行拦截和修复。通常采用多通道测试线和不同的时序开关进行阵列测试阶段的各种不良。

由于显示面板中存在多条并排设置且间隔较小的金属线，在制备过程中相邻的金属线由于间隔较小以发生短路，如何在阵列测试中检测出短路缺陷，成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板，旨在检测阵列基板中线路的短路缺陷。

第一方面，本发明提供一种阵列基板线路检测结构，包括：多个测试单元，每个测试单元包括m个测试线组，每个测试线组包括n条测试线，其中m为大于等于2的整数，n为大于等于2的整数，每个测试单元的各测试线依次排列，按照各测试线的排列顺序，每间隔m-1条的测试线属于同一个测试线组，测试线用于与阵列基板的信号线电连接；测试焊盘，对应每个测试线组设置有一个测试焊盘，每个测试线组的测试线电连接至同一个测试焊盘，测试焊盘用于通过对应的测试线组的各测试线向对应的信号线输入测试信号以及接收对应的信号线的反馈信号。

根据本发明的一个方面，进一步包括短路棒，对应每个测试线组设置有一个短路棒，每个测试线组的各测试线电连接至对应的短路棒，并通过短路棒电连接至对应的测试焊盘。

根据本发明的一个方面，短路棒的延伸方向与测试线延伸方向相交；优选的，短路棒的延伸方向与测试线的延伸方向垂直。

根据本发明的一个方面，进一步包括通断开关，通断开关与测试线一一对应设置，通断开关用于控制测试线与对应的测试焊盘之间的信号的通断；优选的，通断开关为薄膜晶体管。

根据本发明的一个方面，每个测试单元中，沿各测试线的排布方向，每相邻的m条测试线对应的通断开关由同一个时序信号控制；和/或，不同的测试单元中，相同位置的测试线对应的通断开关由同一时序信号控制。

根据本发明的一个方面，每个测试单元包括2个测试线组，每个测试线组包括4条测试线，每个测试单元中按照各测试线的排列顺序每间隔1条的测试线电连接至同一测试焊盘。

第二方面，本发明提供一种阵列基板，阵列基板具有显示区和位于显示区周侧的非显示区，阵列基板包括：信号线，多条信号线设置于显示区；阵列基板线路检测结构，为上述任一实施例的阵列基板线路检测结构，阵列基板线路检测结构设置于非显示区，且测试线与信号线一一对应且电连接。

根据本发明的一个方面，测试线与信号线同层设置，测试线由对应的信号线从显示区向非显示区延伸形成；或相邻的测试线中的其中一条与信号线同层设置，另一条与信号线异层设置，与信号线同层设置的测试线由对应的信号线从显示区向非显示区延伸形成，与信号线异层设置的测试线通过过孔与对应的信号线电连接；优选的，信号线为数据线。