[发明专利]零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质

说明书

本发明提供一种零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质，方法包括如下步骤：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图，然后对断层图进行处理，根据孔底厚度判断是否存在异物，能够检测出微米级的异物，精度高，准确率高，效率快。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在工业生产过程中，机械加工过程中会存留一些铁屑(微米级别)及工业生产过程中会用一些特殊的制程来处理样品，因此零件孔内可能会存在一些异物，这些异物可能会影响样品的后期使用(如对锁螺丝产生影响，干扰样品内的信号)。现有技术中采用显微镜人工检测，需要消耗大量的人力成本，且主观性太强；即便采用设备辅助检查，其精度也不高，不能满足实际需求。

发明内容

本发明为了解决现有的问题，提供一种零件孔内异物检测方法。

为了解决上述问题，本发明采用的技术方案如下所述：

一种零件孔内异物检测方法，包括如下步骤：S1：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；S2：对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；S3：根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。

优选地，对所述断层图进行处理包括：S21：对所述断层图进行分割得到过渡分割图像；S22：在所述过渡分割图像中把面积最大的连通区域归零，其它得区域归为非零的一个数值，得到二分图像；S23：对所述二分图像中横向相邻的10-20个像素相加得到两个波峰，从上到下的两个波峰分别是孔口和孔底，在所述二分图像中确认所述孔口和所述孔底的位置。

优选地，所述断层图进行分割综合图像的不相似度和位置信息，根据类内差异和类间的差异确定自适应阈值。

优选地，步骤S3包括如下步骤：S31：获得所述二分图像中所述孔底的厚度；S32：将所述孔底的厚度与标准厚度作比较；S33：若所述孔底厚度超过所述标准厚度则所述孔底有异物。

优选地，所述光源向外发出的是可见光或红外光；所述异物包括铁锈、残胶。

优选地，所述光束包含至少10条放射线。

优选地，所述光束包含36条放射线。

优选地，所述孔底的厚度超过25个像素则确定有异物。

本发明还提供一种零件孔内异物检测终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任一所述方法的步骤。

本发明又提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述方法的步骤。

本发明的有益效果为：提供一种零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质，通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图，然后对断层图进行处理，根据孔底厚度判断是否存在异物，能够检测出微米级的异物，精度高，准确率高，效率快。

附图说明

图1是本发明实施例中现有技术中的一种OCT测量装置示意图。

图2是本发明实施例中主体模块的示意图。

图3本发明实施例中一种零件孔内异物检测方法示意图。