[发明专利]一种光谱检测系统和光谱检测方法

说明书

本发明实施例涉及光谱测量技术领域，公开了一种光谱检测系统和光谱检测方法，所述光谱检测系统包括：单色光源、待检测物、分光装置和检测装置；所述单色光源用于产生单色光，所述单色光激发所述待检测物产生发射光；所述分光装置用于将所述待检测物产生的发射光进行分光；所述检测装置用于接收经所述分光装置分光后的发射光，对所述分光后的发射光进行光谱分析，并根据所述光谱分析的结果，得到所述待检测物的性能。本发明提供的光谱检测系统和光谱检测方法能够提高测量待检测物性能的准确性。

技术领域

本发明实施例涉及光谱测量技术领域，特别涉及一种光谱检测系统和光谱检测方法。

背景技术

利用光致发光光谱测量技术可以分析光致发光材料(含有机和无机发光材料)内部的电子能级结构。采用光子能量较高(或波长较短)的发射光可以使得材料内部电子从低能级状态跃迁到高能级状态，处于高能级状态的电子跃迁回低能级状态时，多余的能量有可能转换为光子，该现象被称为光致发光。

光致发光光谱中的光强度随光子能量(或波长)的分布情况反映了材料内部的电子能级结构。采用单色光源激发发光材料，在不损伤发光材料的前提下，可以获得较强的光致发光信号，从而获得光致发光光谱，有利于深入分析材料内部的电子能级结构。

现有技术中对通过光致发光材料的光进行光谱分析的装置质量有待提高。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种光谱检测系统和光谱检测方法，其能够提高测量待检测物性能的准确性。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种光谱检测系统，包括：单色光源、待检测物、分光装置和检测装置；所述单色光源用于产生单色光，所述单色光激发所述待检测物产生发射光；所述分光装置用于将所述待检测物产生的发射光进行分光；所述检测装置用于接收经所述分光装置分光后的发射光，对所述分光后的发射光进行光谱分析，并根据所述光谱分析的结果，得到所述待检测物的性能。

另外，所述单色光源包括单色光发射装置。通过此种结构的设置，能够使光谱检测系统的结构更加简单。

另外，所述单色光源包括复合光发射装置和单色器，所述复合光发射装置经由所述单色器产生单色光。

另外，所述待检测物的材质为光致发光材料。

另外，所述检测装置包括发射光谱获取模块一、发射光谱获取模块二和处理模块；所述发射光谱获取模块一用于获取未放置所述待检测物时所述单色光的发射光谱一；所述发射光谱获取模块二用于获取放置所述待检测物时所述分光后的发射光的发射光谱二；所述处理模块用于根据所述发射光谱一和所述发射光谱二得到所述待检测物的性能。

另外，所述待检测物的性能包括光子转换效率、发射光漏光率、色坐标、发光亮度及发光均匀性中的至少一种。

另外，所述光谱检测系统还包括光扩散装置，所述单色光源产生的单色光经由所述光扩散装置照射所述待检测物。通过设置光扩散装置，能够使单色光源发射的光扩散形成面光源，从而能够照射待检测物的各个表面，以使待检测物的各个表面均经由单色光的激发发射发射光，从而使该发射光的光谱分析能够准确体现待检测物的性能，进一步确保了测量待检测物性能的准确性。

另外，所述光谱检测系统还包括聚光装置，所述聚光装置用于收集所述待检测物产生的发射光，并将所述发射光汇聚至所述分光装置，所述分光装置用于将所述聚光装置收集的发射光进行分光。通过此种结构的设置，使得聚光装置将待检测物产生的发射光聚集在一起，提高了其穿透性，从而能够确保检测装置接收到该发射光，提高了光谱检测系统的可靠性。

另外，光谱检测系统还包括三轴平移台，所述聚光装置、所述分光装置和所述检测装置均依次设置在所述三轴平移台上。