[发明专利]测试图样产生方法以及失效模型产生方法

说明书

一种测试图样产生方法以及一种失效模型产生方法，该测试图样产生方法用以产生电路测试所用的测试图样，包含：(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；(b)比较信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型；以及(c)根据该失效模型产生至少一测试图样。

技术领域

本发明涉及测试图样产生方法以及失效模型产生方法，特别涉及产生可用以检测电路延迟问题的测试图样产生方法以及失效模型产生方法。

背景技术

随着各式电路的功能越来越多且体积逐渐变小，为了确保电路的良率，电路的测试变得越来越重要。现有的电路测试，例如固定型错误(Stuck At Fault,SAF，固定型故障)测试或信号延迟转态错误(Transition Delay Fault,TDF，转态延迟故障)测试均只模拟元件(cell)因为缺陷(defect)而产生的动作。然而，由于电路工艺越来越复杂，元件内部可能也会发生缺陷，但旧有的电路测试方法无法测出元件内部具有何种缺陷。

因此，相关技术领域开发出一种元件感知失效模型产生方法(cell aware faultmodel generating method)，其可产生能够测试出元件内部缺陷的失效模型。然而，无论是旧有的电路测试方法或是使用元件感知失效模型产生方法，均未考虑到信号可能在电路不同信号路径上会有不同延迟状况的问题。

发明内容

因此，本发明一目的为提供一种测试图样产生方法及失效模型产生方法，其可产生能够测试出电路的信号延迟问题的测试图样。

本发明一实施例公开了一种测试图样产生方法，用以产生电路测试所用的测试图样，包含：(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；(b)比较信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型；以及(c)根据该失效模型产生至少一测试图样。

本发明另一实施例公开了一种失效模型产生方法，用于一电路测试，包含：(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；(b)比较所述多个信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型。

根据前述实施例，可产生能够测试出电路的信号延迟问题的测试图样以及反映电路的信号延迟问题的失效模型，可改善传统电路测试方法的问题。

附图说明

图1示出了根据本发明一实施例的测试图样产生方法的流程图。

图2示出了根据本发明一实施例的图1中步骤101的详细流程图。

图3示出了根据本发明一实施例的图1中步骤103的详细流程图。

图4示出了根据本发明一实施例的图1中步骤105的详细流程图。

图5示出了根据本发明一实施例的测试图样产生装置的方框图。

符号说明

101、103、105、201、203、205、207、209

301、303、305、401、403、405 步骤

500 测试图样产生装置

501 处理电路

503 存储装置

505 网络装置

具体实施方式