[发明专利]测试图样产生方法以及失效模型产生方法

权利要求书

1.一种测试图样产生方法，用以产生电路测试所用的测试图样，包含：

步骤(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；

步骤(b)比较所述多个信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型；以及

步骤(c)根据该失效模型产生至少一测试图样。

2.如权利要求1所述的测试图样产生方法，其中该步骤(a)包含：

分别记录在不同的多个信号输入下，无缺陷的所述多个元件的多个第一输出波形；

分别记录在不同的所述多个信号输入下，具有不同缺陷的所述多个元件的多个输出信号的多个第二输出波形；以及

根据所述多个第一输出波形以及所述多个第二输出波形的差异计算所述多个信号延迟值。

3.如权利要求2所述的测试图样产生方法，其中该步骤(a)还包含：

读取该元件数据库中的元件信息，该元件信息包含该元件的元件功能或元件时序信息；

读取该元件数据库中的元件布局信息；

依据该元件信息或该元件时序信息、以及该元件布局信息进行缺陷模拟以产生所述多个第二输出波形。

4.如权利要求2所述的测试图样产生方法，其中该步骤(a)还包含：

对每一该缺陷进行单时间区段缺陷模拟或对每一该元件的输出端进行多时间区段缺陷模拟。

5.如权利要求1所述的测试图样产生方法，其中该步骤(b)包含：

步骤(b1)对该目标电路进行静态时序分析，以产生电路时序信息；

步骤(b2)根据该电路时序信息产生该信号路径延迟信息；以及

步骤(b3)根据所述多个信号延迟值和该信号路径延迟信息的相对关系产生该失效模型。

6.如权利要求5所述的测试图样产生方法，其中该步骤(b1)包含：

接收一电路网表；

接收一时序数据库，该时序数据库包含该目标电路的多个被使用元件的端点间的延迟量；

接收时间限制信息；以及

根据该电路网表、该时序数据库以及该时间限制信息对该目标电路进行静态时序分析，以产生电路时序信息。

7.如权利要求6所述的测试图样产生方法，其中该信号路径延迟信息包含所述多个被使用元件的松动值范围，该步骤(b3)根据所述多个信号延迟值以及该松动值范围的相对关系产生该失效模型，其中该失效模型为多时间区段失效模型。

8.如权利要求7所述的测试图样产生方法，其中该松动值范围包含所述多个被使用元件所使用信号路径的多个松动值，该步骤(b3)根据所述多个信号延迟值以及所述多个松动值中的最大松动值和最小松动值的相对关系产生该失效模型。

9.如权利要求1所述的测试图样产生方法，其中该步骤(c)以时序感知自动测试图样产生来根据该失效模型产生测试图样。

10.一种失效模型产生方法，用于一电路测试，包含：

(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；

(b)比较所述多个信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型。