[发明专利]校正温度的确定方法及装置、存储介质、电子装置

权利要求书

1.一种校正温度的确定方法，其特征在于，包括：

在预定环境温度下，根据反射温度确定待测黑体对应的校正灰度值，其中，当测量场景中存在温度大于所述预定环境温度的高温物体时，确定所述反射温度为所述高温物体的温度，当测量场景中不存在温度大于所述预定环境温度的高温物体时，确定所述反射温度为所述预定环境温度；

根据红外测量设备内部的半导体制冷器TEC在室温环境下显示的温度、所述TEC在所述预定环境温度下显示的温度以及所述待测黑体在所述预定环境温度下对应的校正相邻灰度差值，确定在所述预定环境温度下所述待测黑体对应的目标灰度差值，其中，所述校正相邻灰度差值为相邻两个设定温度的所述待测黑体对应的校正灰度值之差；

在所述预定环境温度下，根据所述红外测量设备获取的所述待测黑体的测量灰度值、所述待测黑体对应的目标灰度差值以及基准温度，确定所述待测黑体在所述预定环境温度下对应的校正温度，其中，所述基准温度为根据所述红外测量设备的腔体温度校正后的温度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在预定环境温度下，根据反射温度确定待测黑体对应的校正灰度值之前，所述方法还包括：

在室温环境下，获取不同设定温度的待测黑体对应的灰度值，其中，所述待测黑体的设定温度包括N个等间距取值的温度值，N为大于1的整数；

根据不同设定温度的所述待测黑体对应的灰度值，获取室温环境下所述待测黑体的设定温度与相邻灰度差值的映射关系，其中，所述相邻灰度差值为相邻两个设定温度的所述待测黑体对应的灰度值之差；

根据所述待测黑体的设定温度与相邻灰度差值的映射关系，获取所述待测黑体的设定温度与对应灰度值之间的关系曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在预定环境温度下，根据反射温度确定待测黑体对应的校正灰度值之前，所述方法还包括：

根据所述待测黑体的设定温度与灰度值之间的关系曲线获取所述反射温度对应的灰度值，其中，当所述反射温度的温度值对应于所述待测黑体的第一设定温度时，所述反射温度对应的灰度值为所述第一设定温度对应的灰度值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在预定环境温度下，根据反射温度确定待测黑体对应的校正灰度值包括：

通过第一公式确定所述待测黑体在所述预定环境温度下的校正灰度值，所述第一公式如下：

其中，S表示在所述预定环境温度下的校正灰度值，S_m表示在所述预定环境温度下的反射温度对应的灰度值，S_M表示所述红外测量设备在所述预定环境温度下测量得到的所述待测黑体的灰度值，τ表示所述待测黑体的辐射率。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，确定在所述预定环境温度下所述待测黑体对应的目标灰度差值，包括：

通过第二公式确定所述待测黑体对应的目标灰度差值，所述第二公式如下：

y＝g₀±|TEC₀-TEC₁|×B×bⁿ，

其中，y表示所述待测黑体对应的目标灰度差值，g₀表示所述预定环境温度下的校正相邻灰度差值，所述校正相邻灰度差值为相邻两个设定温度的所述待测黑体对应的校正灰度值之差，TEC₀表示所述TEC在室温环境下显示的温度，TEC₁表示所述TEC在所述预定环境温度下显示的温度，B表示预设修正值，b表示预设修正系数，n表示预设基础系数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述预定环境温度下，根据所述红外测量设备获取的所述待测黑体的测量灰度值、所述待测黑体对应的目标灰度差值以及基准温度，确定所述待测黑体在所述预定环境温度下对应的校正温度，包括：

在所述预定环境温度下，获取所述基准温度、所述基准温度对应的基准灰度值以及通过所述红外测量设备获取所述待测黑体的测量灰度值；

通过将所述基准灰度值与所述测量灰度值做差后与所述校正灰度差值比较，以及根据所述待测黑体的设定温度与所述校正灰度差值之间的映射关系，确定所述待测黑体在所述预定环境温度下对应的校正温度。