[发明专利]一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的方法

说明书

本发明公开了一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法，属于光干涉检测技术领域。本发明中待测玻片与平整玻片之间形成空气劈尖，平行光透过空气劈尖产生干涉条纹，当待测玻片中有缺陷或杂质时，干涉条纹发生畸变，在x与y方向分别计算条纹级数及条纹宽度得到缺陷的具体位置坐标，再对其进行后续加工剪裁，可以实现较高的检测精度，操作简单方便，有效防止缺陷或杂质的漏检，得到完整无缺陷的玻璃显示屏。

技术领域

本发明属于光检测技术领域，更具体地说，涉及一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法。

背景技术

为了让用户直观获悉电子设备的运行状态，或是让用户便捷地控制电子设备，电子设备上通常设置有不同的显示屏，显示屏的质量与玻璃原片的质量相关，终端用户对玻璃尺寸的需求是各种各样的，玻璃原片经过杂质检测后进行改裁，再进行一系列处理加工才能得到符合要求的显示屏。而且由于设备制造安装的过程中可能会在显示屏上存留杂质，影响显示屏的品质，例如，在显示屏上进行贴膜，会遗留灰尘胶水等杂质，因而，在显示屏制造完成后，或将显示屏安装在设备上后，需要对显示屏的品质进行检测。工作人员目视检测产品的显示屏上是否存有明显杂质，对一些细微的杂质不易察觉，检测结果不够精确，而且在长时间工作的情况下，人眼会产生视觉疲劳，从而增加漏检的风险，此外，人工检测也大大增加了成本。

为了提高检测效率和质量，现有技术中利用计算机图像检测方法进行杂质检测，如专利申请号：2018215036160，申请日：2018年9月13日，发明创造名称为：一种在线检测玻璃原片杂质的装置，该申请案公开了一种在线检测玻璃原片杂质的装置，包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块；轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据，计算机图像处理模块用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定；该装置操作简单方便，检测效果好，但是不仅要检测杂质的有无，还要检测杂质的位置大小和轮廓形态，检测过程工序繁多。

再如专利申请号：2018106457926，申请日：2018年6月21日，发明创造名称为：显示屏的杂质的检测方法和装置，该申请案的检测方法包括：获取目标显示屏的最小外接矩形，得到第一目标图像：获取第一目标图像的噪声信息，其中，噪声信息至少包括噪声的尺寸以及噪声在第一目标图像中的位置，噪声信息的类型至少包括杂质信息和背景信息，杂质信息至少包括灰尘信息，背景信息为最小外接矩形中目标显示屏以外的区域：在第一目标图像的噪声信息中去除第一图像的四个角所在区域中的噪声信息，得到第一目标信息：基于第一目标信息确定目标显示屏的杂质信息。该方案仅针对带有圆弧角的矩形显示屏进行杂质检测，虽然提高了检测圆角显示屏中杂质信息的效果，但是需要先获取包含目标显示屏的最小外接矩形图像中的噪声信息，目标显示屏的四周为背景，再去除四个角所在区域中的噪声信息，检测步骤多，且主要针对尺寸比较小的显示屏进行检测。

发明内容

1.发明要解决的技术问题

本发明提供了一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷系统及方法，以光的等厚干涉条纹宽度为单位，通过计算条纹级数及条纹宽度得到缺陷的具体位置坐标，再对其进行后续加工剪裁，可以实现较高的检测精度，有效防止缺陷或杂质的漏检，得到完整无缺陷的玻璃显示屏。

2.技术方案

为达到上述目的，本发明提供的技术方案为：

一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的方法，包括以下步骤：

步骤一：将平整玻片放置于测量平台上，平整玻片与待测玻片之间设置一定厚度的夹块形成空气劈尖，所述平整玻片、待测玻片与夹块之间组成干涉系统，所述干涉系统上设有扫描系统；