[发明专利]阵列基板及其制备方法、显示面板在审
申请号: | 201911031657.3 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN110867456A | 公开(公告)日: | 2020-03-06 |
发明(设计)人: | 奚苏萍 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 黄灵飞 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制备 方法 显示 面板 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和GOA区,所述阵列基板包括:
衬底;
有源层,形成于所述衬底上,图案化形成有源区;
源漏极层,形成于所述有源层上;
其中,位于所述显示区内的有源区的厚度,大于位于所述GOA区内的有源区的厚度。
2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括在所述衬底上层叠设置的栅极层、栅极绝缘层、刻蚀阻挡层、钝化层、以及平坦化层,所述有源层位于所述栅极绝缘层和所述刻蚀阻挡层之间,所述源漏极层位于所述刻蚀阻挡层和所述钝化层之间。
3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板在显示区内的厚度,和在GOA区内的厚度相同。
4.如权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,位于所述显示区内的钝化层的厚度,小于位于所述GOA区内的钝化层的厚度。
5.如权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,位于所述显示区内的平坦化层的厚度,小于位于所述GOA区内的平坦化层的厚度。
6.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括在所述衬底上层叠设置的栅极绝缘层、栅极层、层间绝缘层、钝化层、以及平坦化层,所述有源层位于所述衬底和所述栅极绝缘层之间,所述源漏极层位于所述层间绝缘层和所述钝化层之间。
7.如权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板在显示区内的厚度,和在GOA区内的厚度相同。
8.如权利要求7所述的阵列基板,其特征在于,位于所述显示区内的层间绝缘层的厚度,小于位于所述GOA区内的层间绝缘层的厚度。
9.如权利要求7所述的阵列基板,其特征在于,位于所述显示区内的钝化层的厚度,小于位于所述GOA区内的钝化层的厚度。
10.如权利要求7所述的阵列基板,其特征在于,位于所述显示区内的平坦化层的厚度,小于位于所述GOA区内的平坦化层的厚度。
11.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,在所述GOA区内,所述阵列基板的有源层的材料为非晶硅或铟镓锌氧化合物。
12.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:
提供基板;
在所述基板上沉积一层半导体有源层;
图案化处理所述半导体有源层,得到有源区,位于显示区内的有源区的厚度,大于位于GOA区内的有源区的厚度。
13.如权利要求12所述的制备方法,其特征在于,所述图案化处理所述半导体有源层的具体步骤包括:
采用半光罩掩膜技术,图案化处理所述半导体有源层。
14.如权利要求12所述的制备方法,其特征在于,所述图案化处理所述半导体有源层的具体步骤包括:
采用灰色调掩膜技术,图案化处理所述半导体有源层。
15.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括阵列基板,所述阵列基板包括显示区和GOA区,位于所述显示区内的有源层的厚度,大于位于所述GOA区内的有源层的厚度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的