[发明专利]一种快速准确定位放射源的探测器装置及定位方法

权利要求书

1.基于快速准确定位放射源的探测器装置的放射源定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，将快速准确定位放射源的探测器装置放置于标准点放射源的环境中进行测量，保持探测器和放射源位置不动，进行多次放射性剂量率的测量；首次测量时将其中一个放射性探测器（5）正对放射源，每次测量完毕分别记录下每个放射性探测器（5）在测量时间内测得的平均放射性剂量率，并将探测器装置沿主体屏蔽结构（7）的圆周方向同一侧旋转N°进行下一次测量，直至探测器装置累计旋转一周，记录每次的测量的平均放射性剂量率；

步骤2，将步骤1得到的不同角度下的平均放射性剂量率绘制成一张二维散点图统计图，横轴为每次测量时放射性探测器（5）沿主体屏蔽结构（7）的圆周方向的角度，纵轴为每个放射性探测器（5）测得的平均放射性剂量率；将步骤1中每次测量的平均放射性剂量率逐次描绘在所述散点图上；每次描绘时，均以主体屏蔽结构（7）的圆周上正对放射源的位置为横轴的0°位置，每次描绘平均放射性剂量率都重新确定每个探测器对应的角度位置坐标；

步骤3，将步骤2中得到的二维散点图按照式（1）进行拟合，得到曲线f(x)；

f(x)=a₀+a₁cos(wx)+b₁sin(wx)+a₂cos(wx)+b₂sin(wx)+ a₃cos(wx)+b₃sin(wx)(1)

式（1）中：f(x)为函数值，代表放射性剂量率；x为角度值，代表放射性探测器（5）沿主体屏蔽结构（7）的圆周方向的角度；a₁，a₂，a₃，b₁，b₂，b₃和w均为系数；

步骤4，在需要寻找的放射源的环境中进行测量，在探测到的剂量率为该地区本底剂量率的1.5倍以上时开始记录，每次测量时间为1分钟～10分钟，将每个放射性探测器（5）测量时间内的平均放射性剂量率作为测量结果；

步骤5，将步骤3所得曲线与步骤4所得测量结果绘制于同一统计图中，统计图的横轴为每次测量时放射性探测器（5）在主体屏蔽结构（7）的圆周方向的角度，纵轴为每个放射性探测器（5）测得的测量结果，统计图的绘制方法和步骤2相同；并将步骤3所得曲线沿纵轴方向进行缩放并沿横轴方向进行平移，同时纵轴不动，横轴跟随曲线一同平移，直至曲线与尽量多的步骤4所得测量结果的图像重合，此时横轴零点所在的角度所对应的方向即放射源所在的方向；

步骤6，重复步骤4和步骤5至少两次，得到多个位置与对应的方位，各个位置处对应的方位在空间的交点即为放射源的位置；

所述快速准确定位放射源的探测器装置，包括屏蔽结构和放射性探测器（5），所述屏蔽结构为环形，所述屏蔽结构上沿周向均匀布置有多个放射性探测器（5），每个所述放射性探测器（5）有且只有一个表面没有被屏蔽结构包裹，所述放射性探测器（5）其余部分均被屏蔽结构包裹。

2.根据权利要求1所述的放射源定位方法，其特征在于，在首次使用之前，对每个放射性探测器（5）进行标定。

3.根据权利要求1所述的放射源定位方法，所述步骤1中，N=5。