[发明专利]一种器件拨件包装控制方法

说明书

本发明涉及一种器件拨件包装控制方法，所述控制方法包括下述步骤：获取拨装任务和各个测试载体对应的测试结果；根据所述拨装任务确定拨装策略；根据所述拨装策略和各个测试结果生成并执行拨装命令。通过拨装任务确定具体的拨装策略，可以匹配到与任务的工作量和复杂程度对应的拨装策略，而且在拨装策略的指导下，针对已经获取到的各个测试载体的测试结果可以针对每个测试载体生成拨装命令，能够使每一个测试载体的拨装准确而高效，进而使整体的拨装程序中拨件更加准确，包装更加完全。

技术领域

本发明涉及半导体器件生产设备技术领域，尤其涉及一种器件拨件包装控制方法。

背景技术

TO封装系统作为半导体领域中较为常见且应用广泛的一种器件。其中的TO器件在制备完成后，需要将其设置在测试板上进行质量的测试，测试结束后需要将合格品和不合格品进行分拣拨件。一旦出现拨件误差，使不合格的TO器件进入到合格品中，则会影响后续TO器件的一系列功能，因此分拣拨件工作非常重要。目前的分拣、拨件和包装工作主要是在测试完毕之后，通过人工进行分拣拨件，然后在将分拣拨件出的合格品通过人工进行包装。这不仅效率低下，而且人工操作一致性差，还经常对TO器件产生损坏或潜在损坏；如果借助设备进行拨件包装则难以对拨件、包装等工序进行精确有效的控制，往往造成拨件不准确、包装不完全等问题。

因此，需要提供一种器件拨件包装控制方法来解决现有技术的不足。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种器件拨件包装控制方法。

一种器件拨件包装控制方法，所述控制方法包括下述步骤：

获取拨装任务和各个测试载体对应的测试结果；

根据所述拨装任务确定拨装策略；

根据所述拨装策略和各个测试结果生成并执行拨装命令。

进一步的，所述获取拨装任务和各个测试载体对应的测试结果包括：

依次获取各个测试载体的识别信息；

根据任一个测试载体的识别信息调取预先存储的拨装任务；

根据各个测试载体的识别信息调取预先存储的各个测试载体对应的测试结果。

进一步的，所述识别信息包括型号、工单号、测试载体编号和测试时间。

进一步的，所述拨装任务包括工单号内产品的数量和合格率。

进一步的，所述测试结果包括测试载体上的每个TO器件的坐标信息和质量信息。

进一步的，所述测试载体的识别信息显示在测试载体的待扫描区内。

进一步的，多个所述测试载体被依次传送，每个所述测试载体传送过程中均停留于扫描位内，待扫描完毕后继续传送并停留至拨装位内，待拨装完毕后继续传送直至传送完成。

进一步的，所述根据所述拨装任务确定拨装策略包括：

当数量低于单拨数量阈值且合格率高于单拨合格率阈值时，确定单个拨件的策略；否则，确定批量拨件加补料的策略。

进一步的，所述根据所述拨装策略和各个测试结果生成并执行拨装命令的同时，还包括：

依次传送多个包装载体，每个所述包装载体传送过程中均停留于置入位内，待置满TO器件和置入盖体后继续传送，直至传送完毕。

进一步的，所述根据所述拨装策略和各个测试结果生成并执行的拨装命令包括：

当确定的拨件包装策略为单个拨件的策略时，生成并执行的拨装命令为：

依次对停留在拨装位内的各个测试载体上的各个TO器件按其坐标信息进行单独抓取；